ДСТУ Б А.1.1-8-94
ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ УКРАЇНИ __________________________________________________
МЕТОД РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛІЗУ МАТЕРІАЛІВ. АПАРАТУРНЕ ОФОРМЛЕННЯ Терміни та визначення Видання офіційне
ДЕРЖКОММІСТОБУДУВАННЯ УКРАЇНИ КИЇВ
ДСТУ Б А.1.1-8-94
Передмова
1
РОЗРОБЛЕНО Українським науково-дослідним та проектно-конструкторським інститутом будівельних матеріалів та виробів НДІБМВ)
2
ВНЕСЕНО Управлінням державних нормативів і стандартів Мінбудархітектури України
3
ЗАТВЕРДЖЕНО ТА НАДАНО ЧИННОСТІ Наказом Міністерства України у справах будівництва та архітектури від 12.04.94 р. М 83.
4
ВВЕДЕНО ВПЕРШЕ
ДСТУ Б А.1.1-8-94
ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ УКРАЇНИ __________________________________________________
МЕТОД РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛІЗУ МАТЕРІАЛІВ. АПАРАТУРНЕ ОФОРМЛЕННЯ Терміни та визначення
МЕТОД РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА МАТЕРИАЛОВ. АПАРАТУРНОЕ ОФОРМЛЕНИЕ Термины и определения
METHOD OF X-RAY ANALYSIS MATERIALS. INSTRUMENTATION EXECUTION Terms and definitions
__________________________________________________ Чинний від 1994-10-01 1 ГАЛУЗЬ ВИКОРИСТАННЯ 1.1 Цей стандарт установлює терміни та визначення понять методу рентгеноструктурного аналізу. 1.2 Терміни, регламентовані в цьому стандарті, обов'якові для використання в усіх видах нормативної документації, у довідковій та навчально-методичній літературі, а також для робіт з стандартизації або при використанні результатів цих робіт, включаючи програмні засоби для комп'ютерних систем. 1.3. Вимоги стандарту чинні для використання в роботі підприємств, установ, організацій, що діють на території України, технічних комітетів з стандартизації, науково-технічних та інженерних товариств, міністерств (відомств). __________________________________________________ Видання офіційне
2 НОРМАТИВНІ ПОСИЛАННЯ У цьому стандарті є посилання на такі документи:
ДСТУ 1.2- Державна система стандартизації України. Порядок 93 розроблення державних стандартів Державна система стандартизації України. Загальні ДСТУ 1.5вимоги до побудови, викладу, оформлення та змісту 93 стандартів КНД 50011-93
Основні положення та порядок розроблення стандартів на терміни та визначення
3 ОСНОВНІ ПОЛОЖЕННЯ 3.1 Побудова, виклад та оформлення стандарту відповідають могам ДСТУ 1.0, ДСТУ 1.2, ДСТУ 1.5, КНД 50-011. 3.2 Для термін.
кожного
поняття
встановлено
один
ви-
стандартизований
3.3 Подані визначення можна в разі необхідності розвивати шляхом введення до них похідних ознак, які доповнюють значення термінів, що використовуються. Доповнення не можуть порушувати обсяг і зміст понять, визначених у стандарті. 3.4 У стандарті, як довідкові, подані німецькі (dе), англійські (еn), французькі (fr) і російські (rи) відповідники стандартизованих термінів, а також визначення російською мовою. 3.5 У стандарті наведено абетковий покажчик термінів українською мовою та абеткові покажчики іншомовних відповідників стандартизованих термінів кожною мовою окремо.
4 ЗАГАЛЬНІ ПОНЯТТЯ 4.1 АПАРАТУРА ДЛЯ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛІЗУ 4.1.1 рентгенівський дифрактометр
Апарат, у якому для реєстрації, інтенсивності дифрагованих рентгенівських променів застосовуються лічильники квантів з реєструвальними електронними схемами та записом результатiв на дiаграмнiй стрічцi або цифродрукувальному пристрої 4.1.2 дифрактометр загального призначення
Апарат для проведення широкого кола рентгеноструктурних дослiджень матерiалів із застосуванням іонiзаційного методу реєстрації рентгенiвських променів 4.1.3 текстурний рентгенівський дифрактометр
Рентгенівський дифрактометр, який застосовується для дослідження текстур 4.1.4 малокутовий рентгенівський дифрактометр
de R[o1]ntgendiffraktometer еn Х-rау diffraktometer fr diffraktom[e2]tre [а4] rayons Х ru рентгеновский дифрактометр
* *
Аппарат, в котором для регистрации интенсивности дифрагированных рентгеновских лучей применяются счетчики квантов с регистрирующими электронными схемами и записью результатов на диаграммной ленте или цифропечатающем устройстве dе Allgemeinzweckdiffraktometer еn general purpose diffraktometer fr diffraktom[e2]tre d'usage * gen[e2]ral * ru дифрактометр общего назначения Аппарат для проведения широкого круга рентгеноструктурных исследований материалов с использованием ионизационного метода регистрации рентгеновских лучей de Texturr[o1]ntgendiffrakto- * meter еn texture Х-гау diffraktometer fr diffraktom[e2]tre de * texture [а4] rayons Х * ru текстурный рентгеновский дифрактометр Рентгеновский дифрактометр, пpeдназначеный для исследования текстур de Kleinwinkelr[o1]ntgendif- * fraktometer en small angle Х-rаy diffraktometer fr diffraktom[e2]tre [а4] *
гауоns Х [а4] petits angles ru малоугловой рентгеновский дифрактометр Апаpат для вивчення дифузного та дискретного розсiювання рентгенівських пpоменiв субмікроскопічними (від 0,5 до 100 нм) неоднорідностями у речовинах, а також у матеріалах з великими (до 1000 А) перiодами кристлічної гpатки 4.1.5 рентгенівський спектрометр
Спектрометр іонiзуючих віпpомінювань для дослідження спектра величин, що характеризують поле рентгенівського випpомінювання 4.1.6 кристал - дифракційний рентгенівський спектрометр
Рентгенівскький спектрометp, у якому для дослідження спектра використовується дифракція випромінювання на кристаланалізатоpі 4.1.7 рентгенівський aнaлiтичний комплекс
Комплекс апаратури для автоматичного пpоведення рентгеноспектрального аналiзу, який скла-
*
Аппаpат для изучения диффузного и дискретного pассеивания рентгеновских лучей субмикроскопическими (от 0,5 до 100 нм) неоднородностями в веществах, а также в материалах с большими (до 1000 А) периодами кристаллической решетки
de R[o1]ntgenspektrometer еn Х-raу spektrometer fr spectrom[e2]tre [a4] rayons Х ru рентгеновский спектрометp
* *
Спектpометр ионизирующих излучений для исследования спектpа величин, характеризующих поле рентгеновского излучения de Gamma-Kristallspektrometer еn crystal diffraction Х-rау spectrometer fr spectrom[e2]tre de diffraction [а4] cristal [a4] rayons Х ru кристалл - дифракционный рентгеновский спектрометр
* *
Рентгеновский спектpометр, в котором для исследования спектра используется дифракция излучения на кристалланализаторе de R[o1]ntgenanalysenkomplex en Х-rау analytical complex fr complexe analytique [a4] rayons Х ru pентгеновский аналитический комплекс Комплекс аппаратуры для автомтического проведения рентгеноспектрального анализа, состоящий из
* *
дається з рентгенiвського спектрометpа та ЕОМ
рентгеновского спектрометpа и ЭВМ
4.2 ОСHОВHІ ПАРАМЕТРИ ТА ХАРАКТЕРИСТИКИ AПAРATlВ ДЛЯ РЕНТГЕHОСТРУКТУРHОГО АНАЛІЗУ 4.2.1 основна апаратурна похибка
Вiдносне сеpеднє квадратичне вiдхилення результатів випромінювання щільності потоку pентгенівського випpомінювання 4.2.2 Допустиме відхилення кута повоpоту блоку детектування
Відхилення дійсного значення кута повоpоту блоку від значення, заданого методикою контролю 4.2.3 діапазон кутових перемiщень
Дiлянка кутових перемiщень, для якої визначене донустиме відхилення 4.2.4 діапазон переміщення рентгенівської трубки
de Ger[a1]tefehler en main instrumentaI еrrоr fr erreur principale due аuх іnstruments ru основная аппаpатуpная погрешность
*
Относительное среднеквадpатическое отклонение результатов измерения плотности pентгеновского излучения de Zul[a1]ssige Abweichung des * Drehwinkels des Gleichrichtungsblockes en turning angle admissible deviation of the detection block fr d[e2]viation angulaire admissible du bloc de d[e2]- * tection ru допустимое отклонение угла повоpота блока детектиpования Отклонение действительного значения угла поворота от значения,заданного методикой контpоля de Winkelverschiebungsbereich еn rаngе of angular displacements fr gammedesd[e2]placementsangulaires ru диапазон угловых перемещений
*
Область угловых перемещений, для которой определено допустимое отклонение de R[o1]ntgenr[o1]hreverschiebun-* gsbereich еn displacement range of Х-ray tube fr gamme de d[e2]placement d'un * tube radiog[e2]ne * ru диапазон перемещения рен-
тгеновской трубки
Дiлянка кутових пepeмiщень рентгенiвської тpубки, обмежена початковим та кінцевим значенням шкали 4.2.5 установочна швидкість
Область угловых перемещений рентгеновской трубки, огpаниченная начальными и конечными значениями шкалы de en fr ru
Встановена швидкість кутового переміщення блоку детектування 4.2.6 діапазон робочих кутів гоніометричної приставки
Відхилення дiйсного кутового місцезнаходження кристалотримача від заданого значення 4.2.8 похибка вимірювання кута повороту
Biдхилення дійсного значення кута повоpоту кристалотримача вiд заданого значення 4.2.9 кутова роздільність
*
Установленная скорость углового перемещения блока детектирования dе Pr[u1]fwinkelbereich des metrischen Vorsatzger[a1]tes еn working angle гаnge оf а metric adapter fr gamme des angles dе travail d'un adapteur m[e2]trique ru диапазон рабочих углов гониометрической приставки
Ділянки робочих кутів, у якій реєструється pентгенівське випромінювання 4.2.7 похибка кутового пристрою
Beharrungsgeschwindigkeit regulation speed vitesse dе r[e2]glage установочная скорость
* *
*
Область рабочих углов, в которой регистрируется рентгеновское излучение de en fr ru
Winkelfehler angular bloc еrror еrreur d'un bloc angulaire погрешность углового устройства Отклонение действительного углового положения кристаллодержателя от заданного значения
de Drehwinkelmessfehler en measurement еrror of а rotation angle fr еrreur de mesurage d'un angle de rotation ru погрешность измерения угла поворота Отклонение действительного значения угла повора кpисталлодеpжателя от заданного значения de Winkelaufl[o1]sung (Winkelaufteilung)
*
en angular resolution fr r[e2]soIution angulaire ru угловое разрешение Мінімальний кут дифракції рентгенівського випpомінювання, при якому воно відрiзняється від фону 4.2.10 діапазон повороту досліджуваного зразка
Ділянка зміни кута нахилу в текстуpній пpиставці 4.2.11 робоча площа вхідного вiкна детектора
Площа, яка забезпечує попадання квантів рентгенівського випромінювання всередину робочого об'єму детектоpа 4.2.12 швидкiсть лiчення імпульсів на аналітичнiй лiнiї
Швидкість лiчення iмпульсів на виході реєструвального пристрою, який налагоджений на дану аналітичну лінію 4.2.13 контрастність рентгенiвського дифрактометpа
*
Минимальный угол дифракции рентгеновского излучения, пpи котором оно различимо от фона de Pr[u1]fk[o1]rperdrehbereich en rotation range of а testing sample fr gamme de rotation d'un [e2]chantillon [а4] [e2]tudier ru диапозон повоpота исследуемого образца
*
* *
Область изменения угла наклона в текстурной приставке de Detektoreingangs[o1]ffnungsarbeitsfl[a1]che en input window working аrеа of the detector fr surface utile de lа lucarne d'entr[e2]e du d[e]tecteur ru рабочая площадь входного окна детектора
* * * *
Площадь, обеспечивающая попадание квантов рентгеновского излучения внутрь рабочего обЬема детектора de Analysenleitungimpulsz[a1]* hlungsgeschwіndigkeit en coating rate of impulses оn analytical line fr cadence de comptage des impulsions sur ligne analytique ru скоpость счета импульсов на аналитической линии Скорость счета импульсов на выходе регистpирующего устройсва, настpоенного на данную аналитическую линию de R[o1]ntgendiffraktometerkontrast en contrast of а Х-rау diffractometer fr contraste d'un diffracto-
*
m[e2]tre [a4] rayons X ru контpастность pентгеновского дифpактометpа Відношення вихідного сигналу без фону на зpазку з відомим вмістом елемента, що визначається, до вихідного сигналу, який не містить елемента, що визначається 4.2.14 межа виявлення
Отношение выходного сигнала без фона на обpазце с известным содеpжанием опpеделяемого элемента к выходному сигналу на обpазце, не содеpжащем опpеделяемого элемента de en fr ru
Найменший вмiст eлемента, визначеного розрахунковим способом, який може бути виявлений за встановленою методикою 4.2.15 кут відбору рентгенівського випромінювання
*
de Winkelstrahlungauswahlwinkel en angle of extraction of the X-radiation fr angle d'extraction дe lа radiation Х ru yгол отбора рентгеновского излучения Угол между плоскостью, касательной к излучающей поверхности, и направлением отбора рентгеновского излучения de Bereich der gepr[u1]tten * chemishen Elemente en range of the analysed chemical elements fr gamme des [e2]lements chimi- * gues [a4] analyser * ru диапазон анализирующих химических элементов
Ділпянка хiмчних елементів із гранично малими та гранично великими атомними номерами, в якій вони можуть бути визначені 4.2.17 спектральна роздільнiсть
Nachweisbarkeitsgranze detection limit limite dе d[e2]tection предел обнаружения Наименшее содержание определяемого расчетным способом элемента, которое может быть обнаружено по установленной методике
Кут між площиною,дотичною до випромінюючої поверхні, і напрямком відбору рентгенівського випромінювання 4.2.16 діапазон аналізуючих хімічних елементів
*
Область химических элементов с предельно малым и предельно большим атомными номерами, в которой они могут быть определены de en fr ru
Spektralaufteilung spectral resolution r[e2]solution spectrale спектральное расширение
Найменша відстань між двома сумiжними максимумами, якi спостерігаються над фоном 4.2.18 мiнімальний крок сканування
Наименьшее расстояние между двумя соседними максимумами, наблюдаемыми над фоном de en fr ru
Найменший кут повороту або найменше лiнійне перемiщення елементів спектрометричного пристрою 4.2.19 вибір випромінювання
Вибір випромінювання рентгенівської трубки, при якому відстань між двома відбиттями, що реєструються, тим бiльша, чим більша довжина хвилі випромінювання
Mindestabtastungsschritt minimum step of scanning pas minimal de balayage минимальный шаг сканирования Наименьший угол поворота или наименьшее линейное перемещение элементов спектрометрирующего устройства
de en fr ru
Strahlungsauswahl radiation sampling choix de radiation выбор излучения Выбор излучения рентгеновской трубки, при котором расстояние между двумя регисгрируемыми отражениями тем больше, чем больше длина волны излучения
4.3 СКЛАДОВІ ЧАСТИНИ ТА ПPИCTPOЇ 4.3.1
peнтгенівський спектрометричний канал
Частина пристрою, яка забезпечує вiдокремлення i реєстрацію вибраної ділянки спектра 4.3.2
фіксований pентгенівський спектрометричний канал
Канал для відокремлення і pеєстрації заздалегідь вибраної дiлянки
de R[o1]ntgenspektrometerkanal en spectrometric Х-rау channel fr сanal spectrom[e2]trique [а4] rayons Х ru рентгеновский спектрометрический канал
* *
Часть устройства, обеспечивающая выделение и регистрацию выбранного участка спектра de Fixierr[o1]ntgenspektrometer- * kanal en fixed spectrometric Х-rау channel fr canal spectrom[e2]trique, * fixe rауоns Х ru фиксированный рентгеновский спектрометрический канал Kанал для выделения и регистрации заранее выбранного участка рентгеновско-
рентгенівського спектра 4.3.3
сканувальний рентгенівський спектрометричний канал
го спектра de Ahtastungsr[o1]ntgenspektrometerkanal en scanning spectrometric X-ray channel fr canal de Ьalaуаge spectrom[e2]trique [а4] rауons Х ru сканирующий рентгеновский спектрометрический канал
Канал з автоматичною передбудовою ділянок спектра і з можливістю його запису 4.3.4
рентгенівська гоніометрична приставка
рентгенівська камера
de R[o1]ntgengoniometervorsatzger[a1]t en Х-rау goniometry adaptor fr adapteur goniom[e2]trigue [a4] rayons X ru рентгеновская гониометрическая приставка
4.3.7
детектор рентгенівського випромінювання
* * * *
Приставка, обеспечивающая усреднение кристаллов вращением образца в собственной плоскости de en fr ru
Прилад для реєстрації на рентгенівську плівку дифрагованого рентгенівського випромінювання 4.3.6
*
Kанал с автоматической перестройкой участков спектра и с возможностью его записи
Приставка, яка забезпечує усереднення кристалів обертанням зразка у власнiй площині 4.3.5
*
R[o1]ntgenkamera Х-ray camera chambre de diffraction рентгеновская камера
*
Прибор для регистрации на рентгеновскую пленку дифрагированного рентгеновского излучения de en fr ru
R[o1]ntgenstrahlungsdetektor Х-rау radiation detector d[e2]tecteur de radiation Х детектор рентгеновского излучения
Пepeтворювач квантів рентгенівського випромiнювання в імпупьси напруги або струму
Преобразователь квантов рентгеновского излучения в импульс напряжения или тока
детектор телевізійного типу
de Fernsehdetektor еn television type detector fr d[e2]tecteur de type-television ru детектор телевизионного типа
*
*
Прилад для одержання двомiрної дифракцiйної картини на телеекрані 4.3.8
кристал-аналізатор
Прибор для получения двумерной дифракционной картины на телеэкране de en fr ru
Крістал - дифракційний диспергувальний eлeмент для розкладання в спектр рентгенiвського випромiнювання і відокремлення заданого спектрального iнтервалу 4.3.9
кристал-монохроматор
Kpисталл-дифракционный диспергирующий элемент для разложения в спектр рентгеновского излучения и выделения заданного спектрального интервала de еn fr ru
Елемент для монохроматизації рентгенівського випромінювання 4.3.10 рентгевівський фільтр
Сукупність пристроїв, які забезпечують одержання рентгенiвського випромінювання з заданими параметрами 4.3.12 комплекс керуючий дифрактометричний
Комплекс для програм-
Kristallmonochromator crystal-monochromator cristal-monochromateur кристалл-монохроматор Элемент для монохроматизации рентгеновского излучения
de еn fr ru
Фільтр iз поглинального матеріалу, призначений для послаблення або зміни спектрального складу випромінювання 4.3.11 джерело peнтгенівського випромінювання
Kristallanalysator crystal-analyser cristal analyseur кристалл-анализатор
R[o1]ntgenfilter Х-raу filter filtre [а4] rayons Х peнтгеновский фильтр
* *
Фильтр из поглощающего материала, пpедназначенный для ослабления или изменения спектрального состава излучения de en fr ru
R[o1]ntgenstrahlungsquelle source оf Х-rау radiation soyrce de rayonnement источник рентгеновского излучения
*
Совокупность устройств, обеспечивающих получение рентгеновского излучения с заданными параметрами de Difraktоmеtеrstеuerranlage en diffractometric control complex-KYD fr complexe dе commande diffractom[e2]trigue * ru комплекс управляющий дифрактометрический Комплекс для программно-
ного керування, збору, обробки і реєстрації інформації
го управления, cборa, обработки и регистрации информации
4.4 OCHOBНI МЕТОДИ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛІ3У 4.4.1
якісний pентгенівський фазовий аналіз
Визначення природи кристалічних фаз мінералів зразка за характерним для кожної фази набором ліній або піків набором міжплощинних відстаней та iнтенсивностей
de Qualitative R[o1]ntgenphase- * nanalyse en qualitative Х-raу phase analysis fr analyse de phases qualitative [а4] rауоns X * ru качественный рентгеновский фазовый анализ
4.4.2
кількісний рентгенівський фазовий аналіз
Определение природы кристаллических фаз минералов образца по характерным для каждой фазы набором линий или пиков - набором межплоскостных расстояний и интенсивностей
Визначення залежності інтенсивностi дифракційного відбиття від кількocтi відповідної фази обчислення її процентного вмісту з урахуванням масового коефіцiєнта вбирання речовин i кожної фази
de Qualitative R[o1]ntgenphasen- * analyse en qualitative Х-rау phase analysis fr analyse de phase quantative [a4] rауоns X ru количесгвенный ренгеновский фазовый анализ
4.4.3
метод рентгеноструктурного аналізу
Визначення кристалiчної структури досліджуваної речовини, проце-
Определение зависимости интенсивности дифракционного отражения от количества соответствующей фазы и вычисление ее процентного содержания с учетом массового коэффициента поглощения вещества и каждой фазы de R[o1]ntgenstrukturanalyse en m[e2]thod of Х-rау (diffraction) analysis fr methode d'analyse (structurale) aux rayons Х ru метод рентгеноструктурного анализа Определение кристаллической структуры исследуемого вещества, процессов, свя-
* *
сів, які пов'язані з перебудовою атомів у кристалiчній гратці, за дифракційною картиною, що виникає при розсіюванні рентгенівських променів кристалічною граткою 4.4.4
метод рентгеноспектрального аналізу
Визначення хiмiчного складу речовини за селекцією та реєстрацією рентгенівського характеристичного спектра, який випромінюється атомами при опромінюванні їх рентгенівськими променями 4.4.5
метод додавання фази, що визначається
Визначення кiлькiсного складу шляхом вимірювання відношення інтенсивносей дифраційних ліній шуканої фази та відомої 4.4.6
метод відношення iнтенсивностей аналітичних ліній
Визначення приблизного вмісту кpисталічних фаз шляхом вимірювання відношення iнтенсивностей аналітичних ліній
занных с перестройкой атомов в кристаллической решетке, по дифракционной картине, возникающей при рассеивании pентгеновских лучей кристаллической решеткой de R[o1]ntgenspektralanalyse en method of analysis by Х-ray spectrometry fr m[e2]thode d'analyse radiospectrale ru метод рентгеноспектрального анализа
* *
Определение химического состава веществ по селекции и регистрации pентгеновского характеристического спектра, испускаемого атомами при облучении их рентгеновскими лучами
de Bestimmungsphasenzusatzverfahren en method of addition of а defined phase fr m[e2]thode d'addition d'une phase [a4] d[e2]finir ru метод добавления определяемой фазы
* *
Определение количественного состава путем измерения отношений интенсивностей дифракционных линий искомой фазы и известной de Methode des Verh[a1]ltnisses der Intensit[a1]t der Analysenlinien еn intensity relation method of аnalytical lines fr m[e2]thode des relations d'intersite des lignes analytiques ru метод отношений интенсивности аналитических линий Определение приблизительного содержания кристаллических фаз путем измерения отношения интенсивностей аналитических ли-
*
зразка, який складається тільки з кристалічних фаз 4.4.7
метод прямого вимірювання коефіцієнта вбирання
ний образца, состоящего только из кристаллических фаз de Methode der Direktmessung des Absortionskoeffizientes en direct method of measurement of the absortion factor fr m[e2]thode dе mesurage direct * du соefficient d'absorption ru метод прямого измерения коэффициента поглощения
Визначення відношення коефіцієнтів вбирання досліджуваного зразка i чистої фази, що визначається 4.4.8
метод внутрішнього стандарту
Определение отношения коэффициента поглощения исследуемого образца и чистой определяемой фазы de Innenstandardverfahren en method of an interior standard fr m[e2]thode d'un standard int[e2]rieur ru метод внутреннего стандарта
Встановлення співвідношення фази, що визначається, та введеної стандартної фази за рiзницею інтенсивностей дифракцiйних відбитків 4.4.9
визначення напружень
Метод побудований на прецезійному визначенні параметрів гратки 4.4.10 метод дослідження поверхні і тонких плівок
Метод, який дозволяє зміною кута падіння первинного пучка змінювати глибину проникнення рентгенівських про-
* *
Установление соотношения определяемой фазы и введенной стандартной фазы по разности интенсивностей их дифракционных отражений de еn fr ru
Beanspruchungsbestimmung voltage definition d[e2]finition de tensions определение напряжений
*
Метод основан на прецезионном определении параметров решетки de Method der Untersuchung der Oberfl[a1]che und D[u1]nn* filme en testing method of the surface and the fine films fr m[e2]thod d'ectude de la * surface et des films fins ru метод исследования поверхности и тонких пленок Метод, позволяющий изменением угла падения первичного пучка изменять глубину проникновения рентгеновских лучей в образец
менів у зразок 4.4.11 метод дослідження при різних температурах
de Method der Untersuchung bei Differenztemperaturen en testing method at different temperatures fr m[e2]thod d'etude aux temperatures diff[e2]rentes ru метод исследования при раз-
* *
личных температурах Спосiб вивчення кінетики високо- i низькотемпературних реакцій в спеціальних високо- i низькотемпературних камерах з подальшою peєcтрацiєю вiдбитків рентгенівських променів при заданих температурних параметрах 4.4.12 метод дослідження при різних тисках
Способ изучения кинетики высоко- и низкотемпературных реакций в специальных высоко- и низкотемпературных камерах с последующей регистрацией отраженных рентгеновских лучей при заданных температурах de Methode der Untersuchung bei Differenzdrucken en testing method at different рrеssions fr m[e2]thode d'etude аих pressions diff[e2]r[e2]ntes ru метод исследования при pазличных давлениях
Дослідження поліморфних пepeтворень, визначення стисливості речовини, дослідження реакцiй, які проходять у гідротермальних умовах 4.4.13 метод Лауе
Зйомка нерухомого монокристала у паралельному поліхроматичному променi 4.4.14 метод обертання i коливання кристала
Зйомка кристала при
* *
Исследование полиморфных превращений, определение сжимаемости вещества, исследование реакций, проходящих в гидротермальных условиях de en fr ru
laue-Method Lower's method m[e2]thode de Lower метод Лауэ Съемка неподвижного монокристалла в параллельном полихроматическом луче
de Methode der Kristalldrehung und Schwingung en method of crystal rotation and vibration fr m[e2]thode de rotation et de vibration du crystal ru метод вращения и колебания кристалла Cъемка кристалла при ко-
*
коливаннi навколо осі, перпендикулярної до первинного монохроматичного пучка 4.4.15 виэначення товщиии матеріалу
лебании вокруг оси, перпендикулярной к первичному монохроматическому пучку de Stoffdiskenbestimmung en definition of thickness material fr d[e2]finition del'[e2]pai-
*
sseur d'un materiau ru определение толщины материала Визначення інтенсивності випромінювання, яке пройшло крізь досліджуваний матеріал 4.4.16 локальний фазовий аналіз
Измерение интенсивности излучения, прошедшего через исследуемый материал de en fr ru
Дослідження фазового складу в малих ділянках при використанні первинного пучка малого nepepiзy дiаметром 100 мкм 4.4.17 метод порошку
Вимірювання відбиття монохроматичних рентгенівських променів від зразка з розмірами кристалів від 5 до 40 мкм 4.4.18 метод дослідження при малих кутах
Фазовий аналіз речовини при кутових поворотах зразка і детектора в межах від декількох хвилин до градусів 4.4.19 стандартна речовина
Lokale Phasenanalyse local phase analysis analyse de phase locale локальный фазовый анализ Исследование фазового состава в малых областях при использовании первичного пучкa малого сечения диаметром 100 мкм
de en fr ru
Pulververfahren powder method m[e2]thode de poudre метод порошка Измерение отражений монохроматических рентгеновских лучей от образца с размерами кристаллов от 5 до 40 мкм
de Kleinwinkeluntersuchungsverfahren en test method with small angles fr m[e2]thode d'[e2]tude avec * petits angles ru метод исследования при малых углах Фазовый анализ вещества при угловых поворотах образца и детектора в пределах от нескольких минут до градусов de Standardstoff en standard matter
fr mat[e2]re standard ru стандартное вещество Речовина, яка відтворює рентгенограму, що незалежна від умов і ступеня помолу та не схильна до склоутворення 4.4.20 деформація кристалу
*
Вещество, дающее рентгенограмму, не зависящую от условий и степени помола и не склонное к стеклообразованию de Kristallitdeformation en crystallite defomation fr d[e2]formation de lа cristallite ru деформация кристаллита
Зміна параметрів елементарної комiрки під дiєю мiкронапружень 4.4.21 параметр комірки
Изменение параметров элементарной ячейки под действием микронапряжений de en fr ru
Міжплощинні відстані для ряду ліній з відомими індексами відбиття 4.4.22 максимум дифракційного піка
Зменшення інтенсивності рентгенівського
*
de Diffraktionspitzenmaximum en maximum diffraction peak fr valeur maxіmale du point de diffraction ru максимум дифракционного цикла Измерение интенсивности дифракционного пика в точках, разделенных промежутком 2-5, определение центра тяжести de en fr ru
Речовина, для якої точно відома величина параметрів елементарної комірки 4.4.24 коефіцієнт послаблення
Kammerparameter cellular parameter param[e2]tre d'un cellule параметр ячейки Межплоскостные расстояния для ряда линий с известными индексами отражений
Вимірювання інтенсивності дифракцiйного цикла в точках, розділених проміжком 2-5, визначення центру тяжіння 4.4.23 еталонна речовина
*
Standardsubstanz reference substance substance [e2]talon эталонное вещество
*
Вещество, для которого точно известна величина элементарной ячейки de en fr ru
Schw[a1]chungsfactor weakening factor facteur d'affaiblissement коэффициент ослабления Ослабление интенсивности рентгеновского пучка при
*
пучка при проходженні його крізь шар речовини 4.4.25 розмиття дефракційного піка
прохождении его через слой вещества de Diffraktionsspitzentr[u1]bung * en smearing of a diffraction peak fr an[e2]antissement d'une pointe * de diffraction ru размытие дифракционного пика
Сукупність факторів (дисперсність зразка,
Совокупность факторов (дисперсность образца, не-
несувора монохроматичність випромінювання, наявність мікронапружень та ін.), які зумовлюють нечітку конфігурацію піків
строгая монохроматичность излучения, наличие микронапряжений и т.д.), вызывающих нечеткую конфигурацию пиков
4.4.26 дифузне розсіювання під малими кутами
de Kleinwinkelzerstreuung en diffuse seattering under small sized angles fr dispersion diffuse [a4] petits angles ru диффузное рассеивание под малыми углами
Дифузне розсіювання, яке обумовлене неоднорідністю електронної густини на відстанях того самого порядку, кристалів, які складаються з великих молекул, в яких періоди ідентичності на два порядки перевищують довжину хвилі випромінювання 4.4.27 інтенсивність розсіювання об'єктом
Диффузное рассеивание, обусловленное неоднородностью электронной плотности на расстояниях того же порядка, кристаллов, построенных из крупных молекул, в которых периоды идентичности на два порядка превышают длину волны излучения de Objektzerstreungsintensit[a1]t* en diffusion intensity with an object fr іntensit[e2] de diffusion avec* un objet ru интенсивность рассеивания объектом
Добуток числа частинок об'єкта, які беруть участь у розсіюванні, на інтенсивність розсіюванння oднієї частинки 4.4.28 аналітична лiнiя
*
Произведение числа частиц об'екта, участвующих в рассеивании, на интенсивность рассеивания одной частицы de en fr ru
Analysenlinie аnаlytical line linge analytique аналитическая линия
Лiнiя мінералу, вiльна від накладання і з відомим значенням величини міжплощинної відстані
Линия минерала, свободная от наложений и с известным значением величины межплоскостного расстояния
АБЕТКОВИЙ ПОКАЖЧИК УКРАЇНСЬКИХ ТЕРМІНІВ аналіз рентгенівський фазовий кількісний ................. аналіз рентгенівський фазовий якісний .................... аналіз фазовий локальний ................................. вибір випромінювання ..................................... визначення напружень ..................................... визначення товщини матеріалу ............................. відхилення кута повороту блоку дефектування допустиме ... детектор рентгенівського випромінювання .................. детектор телевізійного типу .............................. деформація кристалу ...................................... джерело рентгенівського випромінювання ................... дифрактометр загального призначення ...................... дифрактометр рентгенівський .............................. дифрактометр рентгенівськнй малокутовий .................. дифрактометр рентгенівський текстурний ................... діапазон аналізуючих хімічних елементів .................. діапазон кутових переміщень .............................. діапазон переміщення рентгенівської трубки ............... діапазон повороту досліджуваного зразка .................. діапазон робочих кутів гоніометричної приставки .......... інтенсивність розсіювання об'єктом ....................... камера рентгенівська ..................................... канал рентгенівський спектрометричний .................... канал рентгенівський спектрометричний сканувальний ....... канал рентгенівський спектрометричний фіксований ......... коефіцієнт послаблення ................................... комплекс керуючий дифрактрометричний ..................... комплекс рентгенівський аналітичний ...................... контрастність рентгенівського дифрактометра .............. кристал-аналізотор ....................................... кристал-монохроматор...................................... крок склнування мінімальний............................... кут відбору рентгенівського випромінювання ............... лінія аналітична ......................................... максимум дифракційного піка .............................. межа виявлення ........................................... метод відношення інтенсивностей аналітичних ліній ........ метод внутрішнього стандарту ............................. метод додавання фази, що визначається .................... метод дослiдження поверхні і тонких плівок ............... метод дослідження при малих кутах ........................ метод дослідження при різних температурах ................ метод дослідження при різних тисках ...................... метод Лауе ................,.............................. метод обертання і коливання кристала .....................
4.4.2 4.4.1 4.4.16 4.2.19 4.4.9 4.4.15 4.2.2 4.3.6 4.3.7 4.4.20 4.3.11 4.1.2 4.1.1 4.1.4 4.1.3 4.2.16 4.2.3 4.2.4 4.2.10 4.2.6 4.4.27 4.3.5 4.3.1 4.3.3 4.3.2 4.4.24 4.3.12 4.1.7 4.2.13 4.3.8 4.3.9 4.2.18 4.2.15 4.4.28 4.4.22 4.2.14 4.4.6 4.4.8 4.4.5 4.4.10 4.4.18 4.4.11 4.4.12 4.4.13 4.4.14
метод порошку ............................................ метод прямого вимірювання коефіцієнта вбирання ........... метод рентгеноспектрального аналізу ...................... метод рентгеноструктурного аналізу ....................... параметр комірки ......................................... площа вхідного вікна детектора робоча .................... похибка апаратурна основна ............................... похибка вимірювання кута повороту ........................ похибка кутового пристрою ................................
4.4.17 4.4.7 4.4.4 4.4.3 4.4.21 4.2.11 4.2.1 4.2.8 4.2.7
приставка рентгенівська гоніометрична .................... речовина еталонна ........................................ речовина стандартна ...................................... роздільність кутова ...................................... роздільність спектральна ................................. розмиття дифракційного піка .............................. розсіювання під малими кутами дифузне .................... спектрометр рентгенівський ............................... спектрометр рентгенiвський кристал-дифракційний .......... фільтр рентгенівський .................................... швидкість установочна .................................... швидкість лічення імпульсів на аналітичній лінії .........
4.3.4 4.4.23 4.4.19 4.2.9 4.2.17 4.4.25 4.4.26 4.1.5 4.1.6 4.3.10 4.2.5 4.2.12
АБЕТКОВИЙ ПОКАЖЧИК
HIMEЦbKИX TEPMIHIB
Abtastungsr[o1]ntgenspektrometerkanal .................. Allgemeinzweckdiffraktometer............................ Analysenleitungimpulsz[a1]hlungsgeschwindigkeit ........ Analysenlinie .......................................... Beanspruchungsbestimmung ............................... Beharrungsgeschwindigkeit .............................. Bereich der gepr[u1]ften chemischen Elemente............ Bestimmungsphasenzusatzverfahren ....................... Detektoreingangs[o1]fnungsarbeitsfl[a1]che ............. Diffraktometersteueranlage ............................. Diffraktionspitzenmaximum .............................. Diffraktionspitzentr[u1]bung ........................... Drehwinkelmessfehler ................................... Fernsehdetektor......................................... Fixierr[o1]htgenspektrometerkanal ...................... Gamma-Kristallspektrometer .............................
4.3.3 4.1.2 4.2.12 4.4.28 4.4.9 4.2.5 4.2.16 4.4.5 4.2.11 4.3.12 4.4.22 4.4.25 4.2.8 4.3.7 4.3.2 4.1.6
* *
* * * *
Geratefehler ........................................... Innenstandardverfahren ................................. Kammerparameter ........................................ Kleinwinkelr[o1]ntgendiffraktometer .................... Kleinwinkeluntersuchungsverfahren ...................... Kleinwinkelzerstreuung ................................. Kristallanalysator ..................................... Kristallitdeformation .................................. Kristallmonochromator .................................. Laue Method ............................................ Lokale Phasenanalyse ................................... Methode der Direktmessund des Absorptionskoeffizientes . Methode der Kristalldrehung und Schwingung ............. Methode der Untersuchung bei Differenzdrucken .......... Methode der Untersuchung bei Differenztemperatur ....... Methode der Untersuchung der Oberfl[a1]che und D[u1]nnfilme ........................................... Methode der Verh[a1]ltnisses der Intensit[a1]t der Analysenlinien ......................................... Mindestastungssehritt .................................. Nachweisbarkeitsgrenze ................................. Objektzerstreungsintensit[a1]t ......................... Pr[u1]fk[o1]rperdrehbereich ............................ Pr[u1]winkelberiech des metrischen Vorsatzger[a1]tes ... Pulververfahren ........................................ Qualitative R[o1]ntgenphasenanalyse .................... Quantitative R[o1]ntgenphasenanalyse ................... R[o1]ntgenanalysentkomplex ............................. R[o1]ntgendiffraktometer ............................... R[o1]ntgendiffraktometerkontrast ....................... R[o1]ntgenfilter ....................................... R[o1]ntgengoniometervorsatzger[a1]t .................... R[o1]ntgenkamera ....................................... R[o1]ntgenrohreverschiebungsbereich .................... R[o1]ntgenspektralanalyse .............................. R[o1]ntgenspektrometer ................................. R[o1]ntgenspektrometerkanal ............................ R[o1]ntgenstrahlungsdetektor............................ R[o1]ntgenstrahlungsquelle .............................
4.2.1 4.4.8 4.4.21 4.1.4 4.4.18 4.4.26 4.3.8 4.4.20 4.3.9 4.4.13 4.4.16 4.4.7 4.4.14 4.4.12 4.4.11 4.4.10 4.4.6 4.2.18 4.2.14 4.4.27 4.2.10 4.2.6 4.4.17 4.4.1 4.4.2 4.1.7 4.1.1 4.2.13 4.3.10 4.3.4 4.3.5 4.2.4 4.4.4 4.1.5 4.3.1 4.3.6 4.3.11
R[o1]ntgenstrukturanalyse .............................. 4.4.3 Schw[a1]chungsfaktor ................................... 4.4.24 Spektralaufteilung ..................................... 4.2.17 Standardstoff .......................................... 4.4.19 Standardsubstanz ....................................... 4.4.23 Stoffdiskenbestimmung .................................. 4.4.15 Strahlungsauswahl....................................... 4.2.19 Textur[o1]ntgendiffraktometer........................... 4.1.3 Winkelanfl[o1]sung (Winkelaufteilung) .................. 4.2.9 Winkelfehler............................................ 4.2.7 Winkelstrahlungauswahlwinkel ........................... 4.2.15 Winkelverschiebungsbereich ............................. 4.2.3 Zulassige Abweichung des Drehiwinkels des Gleichrichtungsblockes ..................................4.2.2
*
* *
* * * * * * * * * * * * * * * * * *
*
*
AБЕТКОВИЙ ПОКАЖЧИК АНГЛІЙСЬКИХ ТЕРМІНІВ analutical line ......................................... angular bloc error ...................................... angular resolution ...................................... angular of extraction of the X-radiation ................ cellular parameter ...................................... coating rate of impujses nn analytical line.............. contrast of a X-ray diffractometer....................... crystal-analyser ........................................ crystal diffraction X-ray spectrometer .................. crystal-monochromator ................................... crystallite deformation ................................. definition oi thickness material......................... defection limit ......................................... diffractometric control complex-KYD ..................... diffuse scattering under small sized angles ............. diffusion intensity with an object....................... direct method of measurement of the absorption factor .................................................. displacement range of a X-ray tube ...................... fixed spectrometric X-ray channel ....................... general puprose diffractometer........................... input window working area the detector .................. intensity relation method of analytical lines............ local phase analysis..................................... Lower's method........................................... main instrumental error ................................. maximum diffraction peak................................. measurement erroe of a rotation angle ................... method of addition of a defined phase.................... method of analysis by X-ray spectrometry ................ method of an interior standart........................... method of crystal rotation and vibration ................ method of X-ray (diffraction) analysis .................. minimum step of scanning ................................ powder method............................................ qualitative X-ray phase analysis ........................ quanitative X-ray phase analysis ........................ radiation sampling ...................................... range of angular displacements .......................... range of the analysed chemical elements ................. regulation speed ........................................ reference substance ..................................... rotation range of a testing sample ...................... scanning spectrometric X-ray channel .................... small angle X-ray diffractometer ........................ smearing of a diffraction peak .......................... standart matter.......................................... source of X-ray-radiation................................ spectracal resolution ................................... spectrometric X-ray channel ............................. television type detector ................................ testing method at different pressions ................... testing method at different temperatures ................ testing method of the surface and the fine films......... test method with small angles ........................... texture X-ray diffractometer ............................
4.4.28 4.2.7 4.2.9 4.2.15 4.4.21 4.2.12 4.2.13 4.3.8 4.1.6 4.3.9 4.4.20 4.4.15 4.2.14 4.3.12 4.4.26 4.4.27 4.4.7 4.2.4 4.3.2 4.1.2 4.2.11 4.4.6 4.4.16 4.4.13 4.2.1 4.4.22 4.2.8 4.4.5 4.4.4 4.4.8 4.4.14 4.4.3 4.2.18 4.4.17 4.4.1 4.4.2 4.2.19 4.2.3 4.2.16 4.2.5 4.4.23 4.2.10 4.3.3 4.1.4 4.4.25 4.4.19 4.3.11 4.2.17 4.3.1 4.3.7 4.4.12 4.4.11 4.4.10 4.4.18 4.1.3
turning angle admissible deviation of the detection block ................................................... voltage definition ...................................... weakening factor......................................... working angle range of a metric adapter.................. X-ray analytical complex ................................ X-ray camera ............................................ X-ray diffractometer .................................... X-ray filter ............................................ X-ray goniometry adapter................................. X-ray radiation detector ................................ X-ray spectrometer ......................................
AБETKOBИЙ ПОКАЖЧИК ФРАНЦУЗЬКИХ
4.2.2 4.4.9 4.4.24 4.2.6 4.1.7 4.3.5 4.1.1 4.3.10 4.3.4 4.3.6 4.1.5
TEPMІНІВ
adapteur gomiometrique [a4] rayons X ................... analyse de phase locale................................. analyse de phases qualitative [a4] rayons X ............ analyse de phase quantative [a4] rayons X .............. an[e2]antissement d'une pointe de diffraction .......... angle d'extraction de la radiation X ................... cadence de comtage des impulsions sur ligne analytique ............................................. canal de balayage spectrometrique [a4] rayons X ........ canal spectrometrique [a4] rayons X .................... canal spectrometrique, fixe [a4] rayons X .............. chambre de diffraction ................................. choix de radiation ..................................... complexe analytique [a4] rayons X ...................... complexe de commande diffractom[e2]trique .............. contraste d'un diffractomnetre [a4] rayons X ........... cristal-analyseur ...................................... cristal-mnnochromateur ................................. d[e2]finition de l'[e2]paisseur d'un materiau ......... d[e2]finition de tensions .............................. d[e2]formation de la cristallite ....................... d[e2]tecteur de radiation X ............................ d[e2]tecteur de type-television ........................ deviation angulaire admissible du bloc de d[e2]tection ........................................... diffractometre [a4] rayons X ........................... diffractometre [a4] rayons X [a4] petits angles ........ diffractometre de texture [a4] rayons X ................ diffractometre d'usage general ......................... dispersion diffuse [a4] petite angles .................. erreur de mesurage d'un angle de rotation .............. erreur d'un bloc angulaire ............................. erreur principale due aux insrtumets ................... facteur d'affaiblissement ..............................
4.3.4 4.4.16 4.4.1 4.4.2 4.4.25 4.2.15 4.2.12 4.3.3 4.3.1 4.3.2 4.3.5 4.2.19 4.1.7 4.3.12 4.2.13 4.3.8 4.3.9 4.4.15 4.4.9 4.4.20 4.3.6 4.3.7 4.2.2 4.1.1 4.1.4 4.1.3 4.1.2 4.4.26 4.2.8 4.2.7 4.2.1 4.4.24
* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * *
liltre [a4] rayons X ................................... gamme de d[e2]placement d'un tube radiog[e2]n .......... gamme de rotation d'un [e2]chantillon [a4] [e2]tudier .. gamme des angles de travail d'un adapteur m[e2]trique ............................................ gamme des d[e2]placements angulaires ................... gamme des elements chimiques analyser .................. intensit[e2] de diffusion avec un objet ................ limite de d[e2]tection ................................. linge analytique ....................................... mati[e2]re standard .................................... m[e2]thode d'addition d'une phase [a4] d[e2]finir ...... m[e2]thode d'analyse radiospectrale .................... m[e2]thode d'analyse (strycturale) aux rayons X ........ m[e2]thode de Lower .................................... m[e2]thode de mesurage direct du coefficient d'absorption ........................................... m[e2]thode de poudre ................................... m[e2]thode de rotation et de vibration du crystal ...... m[e2]thode des relations d'inteesite des lignes analytiques ............................................ m[e2]thode d'[e2]tude aux pressions diff[e2]rentes .....
4.3.10 4.2.4 4.2.10
* * *
4.2.6 4.2.3 4.2.16 4.4.27 4.2.14 4.4.28 4.4.19 4.4.5 4.4.4 4.4.3 4.4.13
* *
m[e2]thode d'[e2]tude aux temperatures diff[e2]rentes .. m[e2]thode d'[e2]tude avee petite angles ............... m[e2]thode d'[e2]tude de la surface et des films fins .. m[e2]thode d'un standard int[e2]rieur .................. param[e2]tre d'un cellule .............................. pas minimal de balayage ................................ r[e2]solution angulaire ................................ r[e2]solution spectrale ................................ source de rayonnement .................................. spectrom[e2]tre [a4] rayons X........................... spectrom[e2]tre de diffraction [a4] cristal [a4] rayons X ............................................... substance [e2]talon .................................... surface utile de la lucarne d'entr[e2]e du d[e2]tecteur ........................................... valeur maximale du point difftraction .................. vitesse de r[e2]glage ..................................
4.4.11 4.4.18 4.4.l0 4.4.8 4.4.21 4.2.18 4.2.9 4.2.17 4.3.11 4.1.5
4.4.7 4.4.17 4.4.14 4.4.6 4.4.12
4.1.6 4.4.23 4.2.11 4.4.22 4.2.5
АБЕТКОВИЙ ПОКАЖЧИК РОСІЙСЬКИХ ТЕРМІНІВ анализ рентгеновский фазовый количественный ............. анализ рентгеновский фазовый качественный ............... анализ фазовый локальный ................................ вещество стандартное ....................................
4.4.2 4.4.1 4.4.16 4.4.19
* * * * * * * * * * * * * * * * * * * *
*
* *
* *
вещество эталонное ...................................... выбор излучения ......................................... детектор рентгеновского излучения ....................... детектор телевизионного типа ............................ деформация кристаллита .................................. диапазон анализируемых химических элементов ............. диапазон перемещения рентгеновской трубки................ диапазон поворота исследуемого образца .................. диапазон рабочих углов гониометрической приставки ....... диапазон угловых перемещений ............................ дифрактометр общего назначения........................... дифрактометр рентгеновский .............................. дифрактометр рентгеновский малоугловой................... дифрактометр рентгеновский текстурный.................... интенсивность рассеивания объектом ...................... источник рентгеновского излучения ....................... камера рентгеновская .................................... канал рентгеновский спектрометрический .................. канал рентгеновский спектрометрический сканирующий ...... канал рентгеновский спектрометрический фиксированный .... комплекс рентгеновский аналитический .................... комплекс управляющий дифрактометрический ................ контрастность рентгеновского дифрактометра .............. коэффициент ослабления .................................. кристалл-анализатор...................................... кристалл-монохроматор ................................... линия аналитическая ..................................... максимум дифракционного пика ............................ метод внутреннего стандарта ............................. метод вращения и колебания кристалла .................... метод добавления определяемой фазы ...................... метод исследования поверхности и тонких пленок .......... метод исследования при малых углах ...................... метод исследования при различных давлениях............... метод исследования при различных температурах ........... метод Лауэ .............................................. метод отношений итенсивности аналитических линий ........ метод порошка ........................................... метод прямого измерения коэффициента поглощения ......... метод рентгеноспектрального анализа ..................... метод рентгеноструктурного анализа ...................... определение напряжений .................................. определение толщины материала ........................... отклонение угла поворота блока дефектирования допустимое .............................................. параметр ячейки ......................................... площадь входного окна детектора рабочая.................. погрешность аппаратурная основная ....................... погрешность измерения угла поворота ..................... погрешность углового устройства ......................... предел обнаружения....................................... приставка рентгеновская гониометрическая ................
4.4.23 4.2.19 4.3.6 4.3.7 4.4.20 4.2.16 4.2.4 4.2.10 4.2.6 4.2.3 4.1.2 4.1.1 4.1.4 4.1.3 4.4.27 4.3.11 4.3.5 4.3.1 4.3.3 4.3.2 4.1.7 4.3.12 4.2.13 4.4.24 4.3.8 4.3.9 4.4.28 4.4.22 4.4.8 4.4.14 4.4.5 4.4.10 4.4.18 4.4.12 4.4.11 4.4.13 4.4.6 4.4.17 4.4.7 4.4.4 4.4.3 4.4.9 4.4.15 4.2.2 4.4.21 4.2.11 4.2.1 4.2.8 4.2.7 4.2.14 4.3.4
размытие дифракционного пика............................. 4.4.25 разрешение спектральное ................................. 4.2.17 разрешение угловое ...................................... 4.2.9
рассеивание под малыми углами диффузное ................. скорость счета импульсов на аналитической линии.......... скорость установочная ................................... спектрометр рентгеновский ............................... спектрометр рентгеновский кристалл-дифракционный ........ угол отбора рентгеновского излучения..................... фильтр рентгеновский .................................... шаг сканирования минимальный ............................
4.4.26 4.2.12 4.2.5 4.1.5 4.1.6 4.2.15 4.3.10 4.2.18
Примітка. */ цифри за літерами в квадратних дужках відповідають значенням в таблиці відповідності символів