Die Panthera TEC POL Mikroskope füllen die letzte Lücke der Panthera-Serie: leistungsfähige Polarisations-Mikroskope für die gesamte Materialkunde. In transparenten Proben wie Fasern oder Folien kann eine inhärente Doppelbrechung nachgewiesen werden, die Auflicht-Modelle für opake Proben arbeiten die spezifische Reflektivität (Bireflexion) flacher Oberflächen heraus.