NIKON METROLOGY MEETOPLOSSINGEN COÖRDINAATMEETMACHINES LASERSCANNING VOOR CMM MANUEEL LASERSCANNEN METROLOGIE-SOFTWARE RÖNTGEN- EN CT-INSPECTIE VIDEO-MEETSYSTEMEN MEETMICROSCOPEN INDUSTRIËLE MICROSCOPEN METROLOGIE VOOR GROTE VOLUMES METROLOGIEDIENSTEN
MULTI-SENSOR CMM INSPECTIE De juiste meetprobe voor elke meetopdracht
2
NIKON METROLOGY MEET-OPLOSSINGEN
4
27
MULTI-SENSOR 3D MEETSYSTEMEN
Stereoscopische microscopen IM-serie industriële microscopen BW Witlicht interferometrische microscoopmodule NeoScope scanning electron microscoop ShuttlePix draagbare, digitale microscoop Software
Portaal CMMs Kraan CMMs voor grote meettoepassingen Horizontale arm CMMs LC-serie CMM scanners XC-serie Cross Scanner CAMIO multi-sensor metrologiesoftware Focus puntenwolksoftware CMM-Manager metrologiesoftware MCAx – Draagbare meetarm Handbediende ModelMaker scanner
17
RÖNTGEN EN CT-SYSTEMEN
XT H series voor industriële CT-toepassingen MCT 225 voor metrologie CT-toepassingen XT V Röntgen-systemen voor electronica-inspectie
INDUSTRIËLE MICROSCOPEN
33
METROLOGIE VOOR GROTE VOLUMES
Laser Radar
35
DIENSTEN EN ONDERSTEUNING
22
2D PRECISIE-MEETINSTRUMENTEN NEXIV VMZ video-meetsystemen iNEXIV VMA video-meetsystemen MM-serie meetmicroscopen Profielprojectoren en optische comparatoren Digimicro digitale lengte-meetinstrumenten Autocollimatoren
NIKON METROLOGY I VISION BEYOND PRECISION 3
MULTI-SENSOR 3D MEETSYSTEMEN
ALTERA
LC15Dx
LK V-SL
LC60Dx
BRUG-, HORIZONTALE ARM- EN KRAAN-COÖRDINAATMEETMACHINES CMM SCANNERS DRAAGBARE MEETARMEN MANUEEL LASERSCANNEN METROLOGIE-SOFTWARE
4
LK H-R
LK V-R
XC65Dx-LS
MMDx
MCAx
MULTI-SENSOR 3D MEETSYSTEMEN
Altera keramische brug CMMs
PERFORMANTIE GECOMBINEERD MET VEELZIJDIGHEID De ALTERA 3D meetmachines (CMMs) van Nikon Metrology sluiten perfect aan bij de behoeften van producenten in de maakindustrie. Door gebruik te maken van keramische elementen met hoge stijfheid zijn deze CMMs goed bestand tegen temperatuursveranderingen, hebben ze een goede nauwkeurigheid in alle werkomgevingen en leveren ze altijd goede prestaties. De ALTERA CMMs zijn beschikbaar in drie standaardpakketten: ESSENTIAL, OPTIMUM, ULTIMATE. Met de brede waaier van opties kan men deze CMMs uitbouwen tot een perfecte meetoplossing op maat van elke klant.
ALTERA 12.10.8
Kenmerken
Voordelen
• Multi-sensor platform voor tactiele probes, analoog scannen en laserscanning • Hoogwaardige materialen laten hoge belasting en intensief gebruik toe
• Snelle metingen door hoge snelheden en versnellingen • Hoge nauwkeurigheid en repeteerbaarheid gegarandeerd voor minstens 10 jaar
Toepassingen
series ESSENTIAL Tactiele CMMs voor algemene inspectie
Inspectie, digitaliseren en reverse engineering van: • Machinaal bewerkte en geperste metaalonderdelen • Plastiekstukken en spuitgietmatrijzen • Gietstukken en gesmede onderdelen
Unieke garantie Nikon Metrology is de enige leverancier die 10 jaar garantie geeft op de nauwkeurigheid van de machine.
Technische beschrijving • Volumetrische nauwkeurigheid - vanaf 1,8 μm + L/400 • Repeteerbaarheid - vanaf 1,8 μm • Snelheid - tot 762 m/min • Versnelling - tot 2.303 m/min2
series OPTIMUM Tactiele, scannende CMMs voor complexe stukken of metingen in holtes
ALTERA 7.5.5 (box stand)
series ULTIMATE Multi-sensor voor de hoogste productiviteit en flexibiliteit
ALTERA - Brug CMM Afmetingen
Afmetingen 1
Meetkop
Sensoren
7.5.5
15.7.6
MH20i
TP20
8.7.6
10.10.8
PH10T PLUS
TP200
10.7.6
12.10.8
PH10M PLUS
SP25M
15.10.8
PH20
LC series laserscanners
20.10.8 1
XC series laserscanners
(andere afmetingen op verzoek verkrijgbaar)
5
LK V en LK V HA brug CMMs
HOGE NAUWKEURIGHEID EN DOORLOOPSNELHEID De keramische brug- en ascomponenten van de LK V brug 3D meetmachines zorgen in combinatie met het beproefde luchtlagerontwerp voor een ultieme stijfheid en stabiliteit. Dit alles heeft een beduidend betere nauwkeurigheid en repeteerbaarheid tot gevolg.
Kenmerken
Voordelen
• Flexibel multi-sensorplatform: tasters, analoge scanning en laserscanning • Hoge snelheden/versnellingen voor korte cyclustijden
• Snelheid en stijfheid verhogen de meetcapaciteit • Uitstekende nauwkeurigheid en repeteerbaarheid • Totaaloplossing voor tactiele meting, scannende tasters en digitale inspectie
Toepassingen Tactiele of optische Inspectie van: • Machinaal bewerkte en geperste onderdelen • Kunststoffen en spuitgietonderdelen • Gegoten en gesmede stukken
LK V 15.12.10
LK V 20.12.10
LK V - (middelgroot tot groot) - Standaardbrug-CMM Afmetingen1
Technische beschrijving • Volumetrische nauwkeurigheid - vanaf 2,1 μm + L/350 (LK V) - vanaf 1,5 μm + L/375 (LK V-HA) • Repeteerbaarheid - vanaf 2,1 μm (LK V) - vanaf 1,5 μm (LK V-HA) • Snelheid - tot 833 m/min (LK V, LK V-HA) • Versnelling - tot 1.242 mm/s2 (LK V) - tot 1.403 mm/s2 (LK V HA)
Sensoren
15.12.10
20.15.12
25.15.15
20.20.15
PH10MQ PLUS
TP20
20.12.10
25.15.12
30.15.15
30.20.15
PH20
TP200
25.12.12
30.15.12
35.15.15
35.20.15
SP80
SP25M
30.12.10
35.15.12
40.15.15
40.20.15
REVO
LC series laserscanners XC series laserscanners
LK V HA - Hoge nauwkeurigheid CMM Afmetingen1
Meetkop
Sensoren
8.7.6
10.10.8
PH10MQ PLUS
TP20
10.7.6
15.10.8
PH20
TP200
20.10.8
SP80
SP25M
25.10.8
REVO
LC series laserscanners XC series laserscanners
1
6
Meetkop
(andere afmetingen op verzoek verkrijgbaar)
MULTI-SENSOR 3D MEETSYSTEMEN
LK V-SL levert ultieme scan- en inspectieprestaties
BRUG CMMs MET DE HOOGSTE PRECISIE De LK V-SL heeft een speciaal ontworpen verstevigde X-as om uiterst nauwkeurige scan- en inspectieresultaten te leveren. Daardoor is de LK V-SL bijzonder geschikt voor de meest veeleisende toepassingen in de automobiel- en luchtvaartsector. In de HA-uitvoering is dit systeem door zijn nauwkeurigheid tot sub-micrometer-niveau geschikt voor uiterst precieze meettoepassingen.
LK V 10.10.8 SL uitgerust met een LC60Dx-laserscanner
Kenmerken
Voordelen
• Keramische Y- en Z-rails • Verhoogde X-as rail voor hoge stijfheid • S-as met schaal op 0,1 micrometer • Multi-sensor toepassingen • Pneumatische trillingsvrije bevestigingen • Standaard temperatuurcompensatie
• Betere prestaties voor scannend meten door hoge stijfheid van het frame • Grotere nauwkeurigheid en productiviteit • Referentie-CMM geschikt voor meetlabo en werkvloer
Toepassingen • Analoge, digitale of laserscanning • Motor- en overbrengingscomponenten (automobielsector) • Schoep-, motor- en vliegtuigcomponenten (luchtvaart) • Algemene precisie-engineering • Medische instrumenten
Referentie-CMM voor meetlaboratoria LK V-SL HA
Technische beschrijving
Keramiek voor topprestaties
• Volumetrische nauwkeurigheid - vanaf 1,1 µm + L/400 (LK V-SL) - vanaf 0,7 µm + L/600 (LK V-SL HA) • Repeteerbaarheid - vanaf 0,7 µm (LK V-SL) - vanaf 0,5 µm (LK V-SL HA) • Snelheid - tot 850 mm/s (LK V-SL) - tot 317 mm/s (LK V-SL HA) • Versnelling - tot 1.407 mm/s2 (LK V-SL) - tot 566 mm/s2 (LK V-SL HA)
De keramische CMM-componenten zijn dimensioneel stabiel, verschaffen een hoge meetnauwkeurigheid en laten hoge snelheden en versnellingen toe zodat de klant zowel tijd als geld bespaard.
LK V-SL en LK V-SL HA - Brug-CMMs met hoogste nauwkeurigheid Aanbevolen afmetingen1 8.7.6
10.10.8
10.7.6
15.10.8
20.12.10
Meetkop
Sensoren
PH10MQ PLUS
TP200
15.7.6 1
SP25M LC15Dx, LC50Cx, LC60Dx, XC65D (-LS)
(andere afmetingen op verzoek verkrijgbaar)
7
LK V portaal en brug CMMs met grote meetvolumes
TOPRESULTATEN BIJ HET METEN VAN GROTE OBJECTEN Nikon Metrology levert een uitgebreid gamma van portaal- en brug-CMMs voor het nauwkeurig meten van grote stukken. Deze keramische CMMs ondersteunen een breed gamma van digitale en analoge probes alsook laserscanners. Nikon Metrology levert ook op maat gemaakte kraan-CMMs voor specifieke toepassingen. De grootste CMMs uit de LK-serie zijn vervaardigd met thermisch zeer stabiele materialen die een optimale stijfheid en nauwkeurigheid verzekeren.
LK V 50.40.12 R
Kenmerken • Performante luchtlagers • Granieten X-rails, keramische Y- en Z-rails • Hoge nauwkeurigheid over het hele meetvolume • Ondersteunt tasters, tastend scannen en laserscanners
Voordelen • Keramisch materiaal is 300% stijver dan aluminium waardoor het geschikt is om hoge nauwkeurigheden te behalen op grote CMMs • Mogelijkheid tot montage op de vloer of inbouw in de fundering • Dubbele aandrijfsystemen voor een hoge snelheid en versnelling • Beschikbaar met meetplaat voor opspannen van stukken
Brug-CMM op dubbele rail LK V-R
Toepassingen • Luchtvaartonderdelen en -structuren • Motorcomponenten voor vaartuigen en locomotieven • Motorvoertuigen en commerciële voertuigen • Telecommunicatie- en satellietuitrusting
LK V-R en LK V R-SL - Brug-CMM op dubbele rail Afmetingen1
Meetkop
Sensoren
Raillengte van 3 m tot +10 m
PH10MQ PLUS
TP20
Bruggrootte van 2 m tot 4 m
Technische beschrijving • Volumetrische nauwkeurigheid - vanaf 4,5 μm + L/200 (LK V-R) - vanaf 3,5 μm + L/250 (LK V-G(P)) • Repeteerbaarheid - vanaf 4,5 μm (LK V-R) - vanaf 3,5 μm (LK V-G(P)) • Snelheid - tot 533 mm/s (LK V-R) - tot 67 mm/s (LK V-G(P)) • Versnelling - tot 631 mm/s2 (LK V-R) - tot 581 mm/s2 (LK V-G(P))
8
TP200
Spillengte van 1,2 m tot 3 m
SP25M
(laag model met stalen zuilen of betonnen basis)
LC15Dx, LC50Cx, LC60Dx, XC65D (-LS)
LK V-G(P) - Brug-CMM met grote nauwkeurigheid en uiterst grote nauwkeurigheid Afmetingen1
Meetkop
Sensoren
Raillengte van 2 m tot +10 m
PH10MQ PLUS
TP20
Bruggrootte van 4 m tot 7 m
1
TP200
Spillengte van 3 m tot 4 m
SP25M
(beschikbaar met stalen zuilen of betonnen basis)
LC15Dx, LC50Cx, LC60Dx, XC65D (-LS)
(andere afmetingen op verzoek verkrijgbaar)
MULTI-SENSOR 3D MEETSYSTEMEN
Horizontale arm LK H CMMs
COMBINATIE VAN SNELHEID EN NAUWKEURIGHEID Het gamma van horizontale- arm CMMs levert ongeëvenaarde prestaties op het vlak van snelheid, nauwkeurigheid en repeteerbaarheid. De keramische componenten en luchtlagers verschaffen bij hoge snelheden en grote versnellingen een uitstekende stabiliteit. De horizontale arm CMMs zijn verkrijgbaar op rails, kunnen ingebouwd worden in de werkvloer en als volledig automatische meetcel worden geleverd.
Horizontale-arm-CMM op dubbele rail ingebouwd in de werkvloer
Kenmerken
Voordelen
• CMM-configuraties: tafelmodel, enkele rail, dubbele rail • Ondersteuning laserscanners en tasters • Optionele metalen meetplaat voor opspannen van stukken
• Hoge snelheden/versnellingen voor korte cyclustijden • Uitstekende nauwkeurigheid en herhaalbaarheid • Flexibel multi-sensorplatform: tasters, tastend scannen, laserscanning
Horizontale arm CMM met dubbele kolom (LK H-R-serie)
Toepassingen • Inspectie van carrosserie en autopanelen • Inspectie van grote onderdelen zoals gietvormen behuizingen, gietstukken • Geïntegreerde inspectie In de productielijn • Taster- en contactloze inspectie voor digitalisering, scanning en reverse engineering
Tafelmodel (LK H-T-serie)
LK H-R - Horizontale-arm-CMM op rail (enkele of dubbele kolom) Afmetingen1
Meetkop
Sensoren
Raillengte van 4 m tot +10 m
PH10MQ PLUS
TP7M
Spillengte van 0,4 m tot 1,6 m
Technische beschrijving • Volumetrische nauwkeurigheid - vanaf 1,9 μm + L/250 (LK H-T) - vanaf 10 μm + L/200 (LK H-R) • Repeteerbaarheid - vanaf 1,9 μm (LK H-T) - 6,0 μm (LK H-R) • Snelheid - tot 850 mm/s (LK H-T) - tot 667 mm/s (LK H-R) • Versnelling - tot 3.008 mm/s2 (LK H-T) - tot 2.106 mm/s2 (LK H-R)
Draaitafel op granieten meetblok (LK H-T-serie)
TP20
Kolomhoogte van 2 m tot 3 m
TP200B
(beschikbaar met overtrekhoes of plooihoes voor rails)
SP25M LC15Dx, LC50Cx, LC60Dx, XC65D (-LS)
LK H-T - Horizontale-arm-CMM met meettafel Groottes1
Meetkop
Sensoren
Raillengte van 1 m tot 5 m
PH10MQ PLUS
TP20
Spillengte van 0,4 m tot 1,6 m Kolomhoogte van 0,6 m tot 2 m
TP200B SP25M LC15Dx, LC50Cx, LC60Dx, XC65D (-LS)
1
(andere afmetingen op verzoek verkrijgbaar)
9
LC15Dx / LC60Dx / LC50Cx Lijnscanners
DIGITAAL LASERSCANNEN VOOR PERFORMANTE 3D INSPECTIE Uitgerust met de nieuwste CMOS technologie en krachtige dataverwerking, bieden de digitale scanners een hoge scansnelheid en nauwkeurigheid. Dit laat fabrikanten toe om de inspectiedoorlooptijd voor complexe stukken drastisch te verkorten. Om een glanzend oppervlak of een stuk met verschillende kleuren efficiënt in te scannen, passen de digitale scanners de scanparameters in real-time aan voor elk individueel punt in de laserlijn. De LC15Dx heeft een nauwkeurigheid vergelijkbaar met die van tactiele metingen. Met de hoge resolutie is de LC15Dx uitermate geschikt om kleine en gedetailleerde stukken te digitaliseren met een hoge puntdensiteit. De LC60Dx is een veelzijdige scanner voor een groot aantal toepassingen die kan gemonteerd worden op zowel coördinaatmeetmachines als draagbare gearticuleerde armen. Het instapmodel LC50Cx biedt dezelfde voordelen van een digitale scanner zoals ESP3, maar meet aan een snelheid van 45 lijnen per seconde met een nauwkeurigheid van 20 μm.
Eigenschappen Toepassingen Inspectie en reverse engineering van mobiele telefoons, turbinebladen, werktuigen, gegoten stukken, matrijzen, plaatstaal, plastiek, enz.
Specificaties LC15Dx
LC60Dx
LC50Cx
18x15 mm
60x60 mm
50x60 mm
1,9 µm
9 µm
20 µm
Meetsnelheid (ong. ptn/sec)
70.000
77.000
37.500
Enhanced Scanner Performance (ESP3)
√
√
√
Zichtveld (FOV) Probing error (MPE ) P
1
1
Nikon Metrology test vergelijkbaar met EN/ISO 10360-2
De LC15Dx is ideaal voor het sneller inspecteren van kleinere voorwerpen die hoge nauwkeurigheid vereisen, zoals precisie-(spuit)gietonderdelen, turbineschoepen, medische componenten.
10
• Geïntegreerd met Renishaw PH10M(Q) en wisselrek (ACR) • Data-acquisitie via multi-wire is mogelijk bij de meeste CMMmerken en types • Ontworpen voor maximale operationele stabiliteit en betrouwbaarheid • Minimale opwarmtijd
LC60Dx
LC50Cx
Voordelen van CMM-gebaseerd • Vereenvoudigde meetvoorbereiding - Leer de scanpaden handmatig aan of definieer het scangebied via de CAD tekening - Importeer eigenschappen van geometrische kenmerken en GD&T informatie direct uit het CAD-model - Macro-functionaliteit voor volledig geautomatiseerd scannen en inspecteren • Snellere meettijd - Geoptimaliseerd voor minimaal aantal bewegingen van de meetkop - Volledige 3D-informatie van oppervlak en geometrische kenmerken in minimale tijd
MULTI-SENSOR 3D MEETSYSTEMEN
XC65Dx(-LS) Cross Scanner
INSPECTIE VAN FEATURES EN COMPLEXE VORMEN Door gebruik te maken van drie laserscanners in één behuizing kan de XC65Dx geometrische kenmerken (features), randen, holtes, ribben en vrijevorm-oppervlakken meten met een eenvoudige scanbeweging. Met de ESP3 wordt de laserintensiteit per gemeten punt geoptimaliseerd zodat elke oppervlak zonder manuele instelling van scanparameters kan ingescand worden.
Eigenschappen • Kruispatroon met 3 lasers levert volledige 3D beeld op m.b.v. één enkele scan • Vermindert aanzienlijk tijdsopslorpende meetkopindexering • Elimineert de behoefte aan een complexe, roterende C-as • Snelle werking door o.a. digitale CMOS cameratechnologie • XC65Dx-LS variant met hogere meetafstand is ideaal voor het scannen van diepe sleuven • Nauwkeurigheid 9μm (XC65Dx) in multi-stylustest vergelijkbaar met EN/ISO 10360-5 MPEal
Toepassingen • Inspectie van gietstukken en geometrische kenmerken in plaatstaal (gleuven, gaten, enz.) • Inspectie van geometrische kenmerken • Gap & flush inspectie
laserscannen
De XC65Dx is specifiek ontwikkeld voor inspectie van plaatstaal met veel vorm-elementen (features).
• Unieke methode om complexe stukken en fragiele voorwerpen op te meten - Creatie van een gedetailleerd 3D model van vrijevorm-oppervlakken in een kort tijdsbestek - Contactloos meten van fragiele en delicate voorwerpen zonder gevaar voor vervorming of beschadiging - Input voor reverse engineering, rapid prototyping, eindige-elementenberekeningen en digitale archivering • Makkelijk te interpreteren rapporten met kleurencodes die afwijkingen tegenover CAD model aangeven De XC65Dx-LS heeft een hogere meetafstand waardoor inspectie van diepere gaten of moeilijk bereikbare plaatsen mogelijk wordt.
11
CAMIO metrologiesoftware voor tasters en scanners
BETER INZICHT, HOGERE PRODUCTIVITEIT CAMIO is een veelzijdige, DMIS-compatibele meetsoftware voor CMMs. Zowel conventionele tasters, continue scannende tasters, evenals laserscansensoren worden ondersteund om de optimale meetprocedure te garanderen. CAMIO levert accurate en efficiënte inspectieresultaten voor geometrische elementen of vormmetingen waarbij de oppervlakken vergeleken worden met het origineel CAD-model. CAMIO biedt een eenvoudige programmeeromgeving met uitgebreide functies voor zowel tactiel als optisch meten.
Puntenwolken van scanmetingen zijn onmiddellijk zichtbaar op het CAD model. Geometrische elementen worden automatische berekend uit de puntenwolk.
Kenmerken • Alle programmeerfuncties zijn direct bereikbaar via de configureerbare werkbalk • Eenvoudige en intuïtieve programmeeromgeving • Op basis van CAD-gegevens (o.a. door het importeren van GD&Ttolerantiegegevens) kan de gebruiker op een snelle manier inspectieplannen maken of wijzigen • Controle van de meetpaden om botsingen te vemijden • Flexibele rapporteringsmogelijkheden met weergave van grafiek, ASCII-tekst, Excel of HTML formaten • Ondersteuning van de meest recente versies van CAD-gegevens: IGES, VDA-FS, STEP, ACIS®, CATIA® v4 en v5, Pro/ENGINEER®, Unigraphics®, Solidworks® en Parasolids® • I++ compatibel
Voordelen • Ondersteuning van meerdere sensortypes om steeds te optimale inspectieroutine te gebruiken voor de specifieke applicatie • Gebruiksvriendelijke programmeerfuncties voor zowel beginnende als gevorderde gebruikers • Tijdswinst bij programmeren betekent meer tijd voor meten en analyseren
Uitgebreide offline programmeermogelijkheden • Machinesimulatie en botsingdetectie • Compatibel met DMIS-software van derden zoals PC-DMIS® en Metrolog XG®
Rapportering kan in vele formaten, zowel grafisch als in tabellen
12
Laserscanning laat toe om oppervlakken snel en volledig te inspecteren
MULTI-SENSOR 3D MEETSYSTEMEN
Focus puntenwolkensoftware
MEET- EN ANALYSESOFTWARE VOOR CMM EN MANUEEL LASERSCANNEN Focus is de software voor meten, analyse en rapportering van laserscandata op CMMs en meetarmen. De software biedt een intuïtieve gebruikersinterface en standaard programmeerfunctionaliteit en laat toe het gehele inspectieproces te automatiseren. Focus bevat krachtige functies voor zowel inspectie van oppervlakken als van geometrische kenmerken. De resultaten worden voorgesteld in eenduidig te interpreteren, interactieve grafische rapporten.
Eigenschappen • Krachtige puntenwolkanalyse - Verwerkt tot meer dan 100 miljoen meetpunten - Automatische detectie en inspectie van features - Automatisch creëren van hoge-kwaliteit polygoonmesh • Complete set van inspectie-functies - Vergelijking tussen fysisch voorwerp en CAD of STL - Analyse van 2D en 3D geometrische kenmerken - GD&T (Geometric Dimensioning & Tolerancing) - Wanddikte, flush&gap en directionele vergelijking • Interactieve rapporteren tonen dimensionele afwijkingen aan • Eenvoudig uitwisselen en visualiseren van data mbv. Focus Viewer • Alle inspectiefuncties zijn volledig automatiseerbaar • Toepassingsgerichte inspectiemodules zoals Turbine-Blade Inspectie
Voordelen • Snelle verwerking van meetresultaten • Krachtige algoritmes voor inspectie van geometrische kenmerken • Eenvoudig te gebruiken voor operatoren alsook geavanceerde functies voor diepgaande ingenieurs-analyse • Inspectie-automatisatie vereist geen programmeervaardigheden • Gemakkelijk te interpreteren en interactieve rapportering versnellen het nemen van beslissingen Kleurenschaalvoorstellingen geven lokale geometrie-afwijkingen aan
Focus Scan – Snel, nauwkeurig meten van puntenwolkendata Focus is - naast het analysegedeelte - ook de meetsoftware voor laserscanners op CMMs en manuele meetarmen Voor CMM gebaseerd scannen laat Focus Scan toe offline en online de scanpaden te definiëren. Naast de data-acquisitie wordt de ruwe puntenwolkdata verwerkt en gefilterd. De off-line module in Focus Scan laat de gebruiker toe om op basis van 3D CAD modellen meetprogramma’s te creëren, aan te passen en uit te testen op een andere computer, zodat de dure machinetijd van CMMs optimaal kan benut worden.
13
Tactiele metrologiesoftware CMM-Manager
INSPECTIE-SOFTWARE VOOR CNC GESTUURDE, MANUELE, EN DRAAGBARE CMMs CMM-Manager is een gebruiksvriendelijk, prijsgunstig softwarepakket voor tactiele inspectie op manuele, CNC- en draagbare CMMs. CMM-Manager is zowel geschikt voor automatisatie van seriële inspectieprocedures als voor eenvoudige meettaken waarbij snel enkele punten dienen te worden gemeten. Deze intuïtieve software omvat vele mogelijkheden zoals snelle metingen voor troubleshooting, complexe CAD-gebaseerde metingen, virtuele simulatie, en tal van andere intelligente functies. Dankzij de grafische Windows 7-gebruikersinterface is de CMM-Manager-software eenvoudig te leren en te gebruiken.
Kenmerken • Grafische programmering op basis van CAD • Conflictdetectie tussen probe en werkstuk • Uitgebreide functies voor uitlijning van werkstukken • Automatische herkenning van meettasters • “Leap-Frogging” om het meetvolume voor mobiele metingen uit te breiden • Optimalisatie van meetpaden voor hogere snelheid en nauwkeurigheid • Veelzijdige grafische rapportering
Voordelen • Snelle en nauwkeurige meetresultaten • Gebruiksvriendelijke en complete metrologiesoftware • Eén enkel softwarepakket voor metingen met CNC-, manuele en draagbare CMMs
Retrofitmogelijkheden • CNC- of manuele CMMs: Nikon Metrology, Sheffield, Mitutoyo, Brown & Sharpe, DEA, Zeiss, Starrett, Numerex, Helmel, Wenzel, Renishaw • Draagbare CMMs: MCA (I, II, x), K-Series Optische CMM, Faro, Romer/ CimCore, Sheffield, Brown & Sharpe, Mitutoyo, Renishaw
Gebruiksvriendelijke software om complexe onderdelen te meten
14
Snelle interpretatie van gegevens dankzij weergave van lokale geometrische afwijkingen met kleurencodes
Eenvoudige drag&drop
MULTI-SENSOR 3D MEETSYSTEMEN
MCAx – 3D-Meetarmen voor laserscanning toepassingen
DE PERFECTE PARTNER VOOR DE MODELMAKER-SCANNERS De MCAx gearticuleerde arm is een precies en betrouwbaar 7-assig meetsysteem. Het is de perfecte partner voor de digitale ModelMaker MMDx / MMCx laserscanners en de Focus software. Door de nauwkeurigheid, verschillende meetvolumes en draagbaarheid van deze geïntegreerde oplossing, is de MCAx zowel geschikt voor gebruik in het meetlabo als in de werkplaats. De MCAx-arm kan worden uitgerust met verschillende meetprobes voor laserscanning, tastermetingen en continue scanning. Door dit multi-sensor concept is deze meetarm geschikt voor de meest uiteenlopende meettaken.
Kenmerken • Beschikbaar in 6 lengtes tussen 2,0 m en 4,5 m • Geavanceerde koolstofvezel-constructie: stijf, licht en thermisch stabiel • Oneindige rotatie van alle hoofdassen • Mogelijkheden tot draadloze aansluiting (WiFi) en werking op Li-Ion- batterij • Intuïtieve Focus scanning- en inspectiesoftware
Toepassingen
Voordelen
• Dimensionele vergelijking meetstuk tot CAD ontwerp • Inspectie van gleuven en spleten • Troubleshooting • Assemblageproblemen oplossen • Reverse engineering
• Hoge nauwkeurigheid en snelle dataverwerking leveren tijdswinst • Snelle en gemakkelijke installatie (plug-and-play) - Korte leercurve - Geen externe controller - Automatische sensorherkenning • Verbeterde ergonomie bevordert lang gebruik • Extreme temperatuurstabiliteit • Geen opwarmtijd • Geoptimaliseerd voor moeilijk te scannen oppervlakken
Verwante oplossingen • ModelMaker-laserscanners • LC60Dx-laserscanners • Focus-software
15
ModelMaker MMDx/MMCx laserscanners
INTUÏTIEF SCANNEN EN ANALYSEREN De digitale ModelMaker laserscanners bieden verbeterde dataverwerking, hogere datasnelheden en een laserlijn tot 200 mm breed voor productief scannen. Door de hoge resolutie zijn de laserscanners ideaal voor digitaliseren en inspectie van gedetailleerde vrijevorm-oppervlakken en geometrische kenmerken. De digitale MMDx / MMCx scanners zijn uitgerust met het vooruitstrevende ESP3 dat toelaat reflecterende oppervlakken of stukken met verschillende kleuren beter op te meten. ModelMaker scanners worden bij voorkeur gecombineerd met MCA, MCAII, MCAx, maar de scanner is ook geïntegreerd op andere populaire meetarmen.
Eigenschappen
Toepassingen • Inspectie van gemeten stuk tegenover het CAD model • Inspectie van geometrische kenmerken • Gap & flush inspectie • Reverse engineering – van conceptueel kleimodel tot klasse A oppervlakken • Input voor rapid prototyping
• Meerdere laserlijnbreedtes beschikbaar van 50 tot 200mm • Nauwkeurigheid tot 10μm (1σ) • Enhanced Sensor Performance (ESP3) ondersteunt het scannen van stukken met glanzende of met verschillende oppervlaktematerialen • Intuïtieve software voor 3D laserscannen - Scanner/arm worden gestuurd via knoppen aan de handgreep - Scandata wordt real-time verwerkt - Automatische creatie van een 3D mesh - Vergelijking van het gemeten stuk met het origineel CAD model
Voordelen • Ergonomisch scannen dankzij laag gewicht • Hoge nauwkeurigheid voor inspectie van vrijevormoppervlakken en geometrische kenmerken • Hoge datadoorvoer voor snelle metingen • Robuust ontwerp voor elk gebruik
MMDx scanners zijn beschikbaar met een meetveld van 50/100/200mm breedte, de instapversie MMCx is verkrijgbaar met een 80 of 160mm scanbreedte.
16
RÖNTGEN- EN CT-SYSTEMEN
X-ray en CT creëert een beeld van de interne structuur van industriële stukken of electronica-componenten. Geavanceerde analyse-mogelijkheden laten toe om elke binnen- of buitenafmeting op een niet-destructieve manier te verifiëren of nauwkeurig te meten.
XT H INDUSTRIËLE CT SCANNING XT H 450 VOOR MATERIALEN MET HOGE DICHTHEID MCT225 Metrology CT XT V 160 / 130C RÖNTGENINSPECTIE VAN ELECTRONICA
17
XT H 160 / 225 / 225 ST / 320 voor industriële CT-scanning
NIET-DESTRUCTIEVE INWENDIGE INSPECTIE VAN INDUSTRIËLE ONDERDELEN
XT H 225 ST
Toepassingen • Evaluatie en meting van (kunststoffen) precisieonderdelen en kleine gietstukken, complexe mechanismen, vergelijking van onderdelen met het CAD enz. • Gedetailleerde foutenanalyse • Geavanceerd materiaalonderzoek • Analyse van biologische structuren • Digitale archivering van modellen • Opsporing van assemblageproblemen
Een gedetailleerde kwaliteitscontrole van interne onderdelen en assemblage-elementen is vaak van vitaal belang voor correcte werking, fout-analyse en materiaalstructuur. De XT H-systemen bieden een micro-focus röntgenbron, een nauwkeurige rotatieplatform en hoge-resolutie beeldsensor voor gedetailleerde röntgensecties en CT-scans. De XT H-systemen zijn geschikt voor uiteenlopende toepassingen, waaronder de inspectie van kleine gietstukken en kunststoffen onderdelen, evenals materiaalonderzoek. Voor grotere stukken te inspecteren, zijn grotere systemen beschikbaar tot zelfs meetcabines waarin men kan binnenstappen.
Kenmerken • Krachtige, in huis gebouwde micro-focusbronnen - Transmissie-bronnen: 180 kV - Reflectiebronnen: 160 kV - 225 kV - 320 kV - Optioneel “Rotating target voor 225 kV • Real-time weergave van röntgenbeelden voor directe analyse • Uiterst snelle CT-reconstructie • Volledig programmeerbare 5-assige manipulator voor precieze inpectie van onderdelen • Aanpasbare macro’s voor automatische CT-metingen
XT H 320
XT H 225
Cilinders in dieselspuitkop
18
Schuimstructuur
Slakkenfossiel
Een röntgenbron met Rotating Target verstuurt röntgenstralen tot 5 keer sneller, zodat sneller kan gemeten worden of binnen dezelfde tijdspanne er door een hogere flux, nauwkeurigere CT-gegevens worden verkregen.
RÖNTGEN- EN CT-SYSTEMEN
XT H 450 voor CT-inspectie van schoepen en gietstukken
KRACHTIGE MICRO-FOCUSBRON VAN 450 kV De XT H 450 is specifiek ontwikkeld voor de meting van turbineschoepen en het nietdestructief onderzoek (NDO) van kleine tot middelgrote gietstukken. De kern van dit krachtig systeem is een micro-focusbron van 450 kV die een superieure resolutie en nauwkeurigheid biedt in zijn klasse. De XT H is verkijgbaar met een hoge resolutie beeldsensor of een “Curved Linear Diode Array”- detector. De CLDA optimaliseert de meting van metalen werkstukken door de röntgenstralen die in alle richtingen verstrooid worden, te elimineren. Daarom levert de CLDA zuivere beelden geschikt voor analyse en metrologie.
Toepassingen
Kenmerken
• Gedetailleerde analyse van de interne structuur van turbineschoepen • Automatische “go/no-go”-inspectie van schoepen • Inspectie van onderdelen met hoge dichtheid (bv. metalen onderdelen, gietstukken)
• Unieke micro-focusbron van 450 kV • Optionele “High Brilliance” bron voor hoger continu vermogen • Beeldsensor mogelijkheden - Perkin Elmer flat panel detector - Curved Linear Diode Array detector - Combinatie van flat panel and CLDA detector • Meetvolume tot 600mm diameter en 600mm hoogte • Uiterst efficiënte lineaire detector en volledig programmeerbare 5-assige draaiende manipulator met precisiekogelschroeven en lineaire geleidingen • Specifieke toepassing voor automatische “go/no-go”-inspectie van turbineschoepen
De 450kV “high brilliance” bron heeft dezelfde voordelen als een “rotating target”source: snellere metingen of betere datakwaliteit
Röntgenbeeld van kettingzaag
Röntgenbeeld van motorgietstuk
2D X-ray beeld met secties van een turbine schoep gemeten door met een XT H 450 met CLDA
CT-volumemodel van motorgietstuk
19
MCT225 – Metrologie CT
ABSOLUTE NAUWKEURIGHEID MET CT SCANNEN MCT225 is een innovatief systeem voor dimensionele inspectie via computertomografie (CT) volgens de meest recente industrienormen. Zowel de interne als externe geometrie wordt op een efficiënte en niet-destructieve wijze gemeten zonder het steeds opnieuw te moeten kwalificeren van referentiematen. Dankzij 50 jaar ervaring in CMMs en 25 jaar ervaring in radiografie is de MCT225 een vooruitstrevend systeem dat op elk moment hoogkwalitatieve en nauwkeurige resultaten levert.
Absolute nauwkeurigheid
Toepassingen • Interne/externe geometrische inspectie van: • Kunststoffen spuitgietstukken • Metalen gietstukken • Complexe onderdelen en assemblages
MATERIAALDOORLICHTING KUNSTSTOF
170 mm
ALUMINIUM
75 mm
STAAL
15 mm
MCT225 is op voorhand gekalibreerd op basis van normen van het nationale meetinstituut van het Verenigd Koninkrijk (NPL). Absolute nauwkeurigheid garandeert een meetnauwkeurigheid zonder tijdrovende vergelijkende scans of referentiemetingen. De proefstukken worden direct op een draaiende tafel in de behuizing geplaatst en gemeten. Door het specifiek ontwerp met oog op stabiliteit behaalt de MCT225 een nauwkeurigheid van 9+L/50µm volgens de VDI/VDE 2630-richtlijn.
Kenmerken • • • • •
Behuizing met temperatuurregeling Lineaire precisiegeleiders Vloeistofgekoelde micro-focusröntgenbron Optische encoders met hoge resolutie Detector van 4 megapixels met hoge resolutie
Andere meetbare materialen zijn o.a.: KERAMIEK, KOOLSTOFVEZEL, IJZERLEGERINGEN Dieselverstuiver
Metrologisch CT-proces
Hydraulische verdeler
20
Volumereconstructie met CT
Rechtstreekse vergelijking met CAD-model
Sectie van interne geometrie
Dimensionaal rapport GD&T
RÖNTGEN- EN CT-SYSTEMEN
XT V 160 / 130C Röntgeninspectie van electronica
SNEL EN NAUWKEURIG INSPECTEREN VAN PRINTBORDEN EN ELECTRONICA-COMPONENTEN Inspectie van electronica en printbordcomponenten vereist een nauwkeurig beeld van de interne structuur om solderingen en verbindingen te controleren. XT V 160 en XT V 130C zijn gebruiksvriendelijk, kostenefficiënt en hoogwaardig röntgen-inspectiesystemen voor gebruik in productielijnen en analyselaboratoria. In automatische inspectiemodus ( XT V 160) kunnen componenten geïnspecteerd worden met de hoogste doorvoersnelheid. In de manuele modus kunnen operatoren met de zeer fijne besturing de kleinste interne defecten en gebreken opsporen en evalueren.
Eigenschappen • Nano-focus X-ray bron met submicron resolutie • 0 tot 75° gezichtshoek voor optimale inspectie van BGA’s • Snelle acquisitie van data met beelden van hoge kwaliteit • Groot meetvolume om meerdere printborden tegelijk te inspecteren • Macro-definitie om processen te automatiseren • Ge-avanceerde Inspect-X meet en analyse-software • C.Clear verbeterde beeldvorming • X.Tract 3D-analyse voor meerlagige componenten (optie)
Voordelen • Groot toepassingsgebied - Interactieve visualisatie - Volautomatische X-ray inspectie - Optionele CT functie voor 3D analyse • Spectaculaire vergroting onder alle hoeken • Efficiënte manipulatie van sample, source en beeldsensor via joysticks • Lage onderhoudskosten via gebruik van open-tube technologie • Geen speciale veiligheidsvoorzieningen of badges nodig • Compact systeem vereenvoudigt de installatie Gedetailleerde ball grid array (BGA)
Gebroken bond wire (CT)
Toepassingen • BGA connectiviteit en analyse • Opsporen van soldeerfouten • Meten en inspecteren van boringen • Meten van “die attach voiding” • “Ball bond”-analyse • “Stich bond”-analyse • “Micro BGA /Chip-on-Chip”-analyse • “Pad array”-analyse • “Dry joint”-detectie en analyse
Modellen Bij het manipuleren van een component blfijft het systeem automatisch gefocust op de gekozen “Region of Interest”
• XT V 160 - Geavanceerd model voor automatische inspectie • XT V 130C - Basismodel voor manuele inspectie 21
2D PRECISIE-MEETINSTRUMENTEN
Precisie-meetinstrumenten garanderen betrouwbare kwaliteitscontrole bij elke productiestap. Uitgerust met de befaamde Nikon optica, zijn de video-meetsystemen, meetmicroscopen, profielprojectoren en optische comparatoren geschikt om zelfs de kleinste of meest complexe werkstukken te meten.
VIDEOMEETSYSTEMEN MEETMICROSCOPEN PROFIELPROJECTOREN DIGITALE HOOGTEMETERS AUTOCOLLIMATOREN
22
2D PRECISIE-MEETINSTRUMENTEN
Nexiv VMZ-R videomeetsystemen
ULTRA-MODERNE TECHNOLOGIE GECOMBINEERD MET GROOT GEBRUIKSGEMAK Ultra-nauwkeurige en snelle inspectie van complexe massa-producten (zoals smartphones, tablets) is vandaag een standaard vereiste in kwaliteitscontrole. Deze geavanceerde NEXIV video-meetsystemen inspecteren snel en accuraat de dimensies en vormen van zowel mechanische werkstukken als electronische componenten opgebouwd uit meerdere lagen.
Snelle en nauwkeurige meting Een hogere nauwkeurigheid is gerealiseerd dankzij Nikon’s zelf ontwikkelde lineaire encoder. Een verbeterde beeldverwerkingstechnologie en optimalisatie van de verlichtingsbron leiden dan weer tot verkorten van de totale meettijd.
VMZ-R4540
Uitgebreide meettoepassingen Een extra derde ring van verlichtingsLEDs verbetert de detectie van randen, terwijl een betere TTL autofocus scherpstelling ervoor zorgt dat het systeem ook transparante componenten kan opmeten.
Hogere productiviteit De efficiëntie verhoogt sterk doordat een inspectieprogramma nu eenvoudiger te creëren is met behulp van het “Guide panel”.
Kenmerken
VMZ-R3020
• Hogere productiviteit door snellere meting, inspectie en programmatie • Hogere nauwkeurigheid door gebruik van een hoge-resolutie lineaire encoder • Nieuwe laser autofocus voor inspectie van dunne transparante materialen • 3 verschillende systeemgroottes: NEXIV VMZ-R3020, NEXIV VMZ-R4540, NEXIV VMZ-R6555 • 4 types van optische meetsystemen mogelijk • Nieuw 8-sector verlichtingsmodule met 3 invalshoeken • Eenvoudige besturings- en analysesoftware met uitgebreide automatisatiemogelijkheden
VMZ-R6555
Glas Substraat Nieuwe lasergestuurd autofocus systeem laat toe doorheen dun transparant materiaal zoals beschermingsglas te meten
37°
WD:50mm
55°
Kleine invalshoek / Grote werkafstand
WD:36mm
78°
WD:10mm
Hoge invalshoek / Korte werkafstand
Het nieuwe 8-sector verlichtingssysteem met 3 verschillende invalshoeken is ontworpen voor een betere meting van randen
23
iNEXIV VMA-2520 / 4540 / 6555
VEELZIJDIGE MULTI-SENSOR VIDEOMEETSYSTEMEN iNEXIV CNC videomeetsystemen inspecteren de dimensies van mechanische of electrische componenten met optische videocameras en geavanceerde beeldverwerking. Randen en features worderd uiterst precies gedetecteerd wat het mogelijk maak complexe stukken te meten. De VMA-2520 is geschikt als tafelmodel voor automatische inspectie van kleinere stukken. The VMA-4540V/4540 biedt een groter meetoppervlak wat het systeem geschikt maakt voor het meten van grotere mechanische of electrische componenten. De VMA-4540V biedt enkel videometingen, terwijl de VMA-4540 ook toelaat om te meten met tactiele probes. iNEXIV VMA-4540
De VMA-6555 kan stukken meten tot 650 x 550 x 200 mm en is geschikt om meerdere kleine stukken tegelijk te meten.
Toepassingen
Kenmerken
• Mechanische onderdelen (bv. metalen onderdelen en spuitgietstukken) • Elektronische apparaten • Gietvormen • Gietmatrijzen • Medische apparaten
• Modellen: - VMA-2520: XY-beweging van 250 x 200 mm en Z-beweging van 200 mm - VMA-4540: XY-beweging van 450 x 400 mm en Z-beweging van 200 mm - VMA-6555: XY-beweging van 650 x 550 mm en Z-beweging van 200 mm • Gebruik van meerdere sensoren: beeldsensor, lasersensor en taster • Uiterst snelle en nauwkeurige laser met autofocus (optioneel) • Krachtige VMA-software
Voordelen • Hoge nauwkeurigheid door witte LED-verlichting en het gebruik van hoogwaardige, aluminium onderdelen • Snelle meettafelbeweging voor een hogere productiviteit • 10x zoom voor groot meetbereik • Geavanceerd algoritme voor beeldverwerking • Intelligente herkenning / detectie van randen
iNEXIV VMA-2520
24
iNEXIV VMA-6555 large stroke model
Aluminium gietstuk
2D PRECISIE-MEETINSTRUMENTEN
MM-200/400/800-serie van meetmicroscopen
MICROSCOPEN VOOR INDUSTRIËLE METROLOGIE De meetmicroscopen van Nikon bieden topprestaties, gebruiksgemak en ongeëvenaarde configuratiemogelijkheden. Deze meetmicroscopen zijn uitstekend geschikt om kleine 2D- en 3D-onderdelen te inspecteren en te meten. De MM400/800-serie verschaft een maximale nauwkeurigheid voor gebruik in veeleisende industriële omgevingen. De MM-200 is een compact en lichtgewicht instapmodel voor het meten van metalen, kunststoffen en elektronische onderdelen met hoge precisie en nauwkeurigheid.
MM-800-meetmicroscoop
Kenmerken
PGA – Inzetpen
Brightfield-beeld
• Geïntegreerd met digitale camera’s en E-Max meetsoftware • Wit LED-belichtings standaard voor brightfield gebruik • Aansturing van automatische belichting, evenals de controle over XY-trap en Z-hoogte via een externe computer • Optionele TTL-laser met autofocus • Voor het meten van grotere werkstukken is een meetplatform tot 12x8 inch beschikbaar
Voordelen
CCD
Kunststof tandwieltanden
• Snelle verwerking en opslag van geometrische gegevens • Verbeterd gebruiksgemak dankzij verscheidene gemotoriseerde bedieningen en een ergonomische vormgeving • Stevige behuizing laat gebruik van grotere meetplatfromen toe • Uitgebreid observatiebereik dankzij de vele mogelijke belichtingsmogelijkheden en lichtbronnen • Digitale beeldvorming
Toepassingen • Kunststofproductie (bv. spuitgietstukken) • Medische apparaten • Micro-elektronica en opto-elektronica • Microgereedschap • Oppervlakteanalyse • Analyse van scheuren en fouten
Verwante oplossingen • NEXIV- en iNEXIV-videomeetsystemen • Industriële microscopen MM-200
MM-400
25
Profielprojectoren, digitale lengtemeetsystemen, autocollimatoren
NIKON OPTICA ALS BASIS VOOR UITERST PRECIEZE MEETSYSTEEMEN Profielprojectoren V-20B/V-12B De Nikon profielprojectoren inspecteren onderdelen door het uitvergrote profiel van een detail op een scherm te projecteren. Een groot aantal projectie-objectieven zijn verkrijgbaar met een verschillend vergrotingsbereik, werkafstand of grootte van het gezichtsveld. Dit laat toe het systeem voor elke specifieke toepassing uit te rusten. Door de superieure nauwkeurigheid bij vergrotingen zijn deze modellen geschikt voor het meten en inspecteren van profielen, oppervlaktecondities en andere aspecten van grotere werkstukken. V-20B
V-12B
Overzicht systemen
Toepassingen
• V-20B (schermdiameter 500 mm) • V-12B (schermdiameter 300 mm)
• Profielen (productie van metaal en kunststof) • Oppervlaktecondities • Analyse van scheuren en fouten
MF-1001/MF-501 Digimicro De Digimicro MF-1001- en MF-501-serie staat garant voor perfecte contactmetingen van omvang, dikte en diepte. Ze beschikken over een meetlengte van respectievelijk 100 mm en 50 mm en een nauwkeurigheid van 1 µm bij 20°C. Standaarden zijn verkrijgbaar in keramiek, staal of graniet voor extra stabiliteit. Er zijn verschillende aanraakpunten verkrijgbaar voor vele toepassingen.
Digitale hoogtemeter M-1001
Digitale hoogtemeter M-501
6B/6D-autocollimatoren Autocollimatoren worden gebruikt om componenten uit te lijnen en/of kleine hoekafwijkingen te meten. Het darkfieldmodel is perfect voor het meten van kleine, vlakke spiegelende componenten. Het brightfieldmodel wordt gebruikt om oppervlaktedetails te inspecteren. De toepassingen omvatten de inspectie van oppervlakken, de uitlijning van onderdelen met reflecterend oppervlak (bv. pick-uplens van een DVD-speler), evenals metingen van machine-uitrusting (bv. rechtlijnigheid van beweging tussen verschillende trappen, hoeken van indexeerders).
26
2D PRECISIE-MEETINSTRUMENTEN
INDUSTRIﾃ記E MICROSCOPEN
Als toonaangevend bedrijf in lens- en beeldtechnologie, maakt Nikon eenvoudig te gebruiken industriﾃｫle microscopen die inzetbaar zijn voor vele toepassingen.
STEREOSCOPISCHE MICROSCOPEN INDUSTRIﾃ記E MICROSCOPEN DRAAGBARE MICROSCOOP ELECTRONENMICROSCOOP SOFTWARE
27
SMZ-serie van stereomicroscopen
SMZ25/18 - GROOT ZOOMBEREIK, HAARSCHERPE BEELDEN De SMZ25 en SMZ18 systemen combineren een groot zoombereik en haarscherpe beelden met een eenvoudig gebruik. Deze nieuwe stereomicroscopen hebben dankzij de vele configuratiemogelijkheden een breed toepassingsbereik - van eenvoudige vergrotingen tot de meest gesofisticeerde observatie en digitale beeldvorming. Een innovatief optisch systeem “Perfect Zoom Optics” levert de eerste microscoop met een 25:1 zoombereik. Zelfs met een objectief met zoomfactor 1x kan een 35mm voorwerp geobserveerd worden in zijn geheel of tot op microscopisch detail.
Kenmerken • Grootste zoombereik verkrijgbaar (25:1 voor SMZ25) • Hoogste resolutie in SMZ series • Gemotorizeerde focus en zoom (SMZ25) • Kristalheldere beelden met verschillende verlichtingstechnieken ( normaal, fluorescentie) • Eenvoudig te gebruiken OCC verlichting • Modulair systeem met vele configuratiemogelikheden
Injectienaald
Printed circuit board (brightfield)
Uurwerk
Uurwerk (15x)
Compleet gamma van stereomiscoscopen De SMZ stereomicroscopen bieden gebruikers een groot zoombereik, modulariteit, comfort en performante optica. De uitgebreide optiemogelijkheden met gemotoriseerde neusstukken, digitale beeldcamera’s en slede-platformen maken het mogelijk om de microscoop te configureren naar ieders behoefte.
Modellen
SMZ800N
De SMZ1270i/1270 heeft het grootste zoombereik in zijn klasse.
28
SMZ745T
• SMZ 25/18 • SMZ 1270i/1270/800N • SMZ 745/745T • SMZ 660 • SMZ 445/460 • SMZ-5/SMZ-2
INDUSTRIËLE MICROSCOPEN
Eclipse-serie van industriële microscopen
INNOVATIE IN INDUSTRIËLE MICROSCOPIE Nikon Metrology heeft een compleet gamma van industriële microscopen voor uiteenlopende toepassingen, van basismodellen tot gesofisticeerde systemen voor complexe inspecties. Het Eclipse-gamma van optische en digitale microscoopsystemen biedt een veelzijdige modulariteit, sterke prestaties en hoge productiviteit om steeds weer optimale resultaten te leveren.
Kenmerken • Keuze van observatiemethode: brightfield, darkfield, polariserend, Nomarski DIC, episcopisch, diascopisch, epifluorescentie enz. • Staande of omgekeerde microscopen • Ergonomisch design voor een comfortabel zicht via aanpasbare positie van de oculairen, gemakkelijk bereikbare bedieningen, elektrostatische bescherming, trillingsisolatie enz. • De nieuwe Nikon CFI60-2 lenzen leveren heldere en contrastrijke beelden
Eclipse L300-serie van microscopen voor inspectie van wafers en LCD-schermen De Eclipse L300-serie is ontwikkeld voor de inspectie van wafers en maskers tot 300 mm, maar is daarnaast ook geschikt voor de inspectie van flatpanel-beeldschermen. De L300-serie maakt gebruik van de nieuwste CFI60-2 lenzen en biedt daardoor een hoge resolutie, sterk contrast en grote lichtsterkte.
Eclipse L200-serie van microscopen voor inspecties van wafers tot 200 mm
Eclipse L300N
Eclipse L200N
Dankzij een combinatie van de CFI60-2 LU/L-optica en een nieuw belichtingssysteem levert deze microscoop beelden op met een grotere helderheid en groter contrast. De L200-serie is perfect geschikt voor de inspectie van wafers, foto-maskers en andere substraten.
Eclipse LV150-serie van microscopen voor industriële inspectie De microscopen uit de Eclipse LV150-serie bieden uitstekende resultaten voor de inspectie van halfgeleiders, flatpanel-beeldschermen, verpakkingen, elektronische substraten, materialen, medische apparaten en verscheidene andere testmonsters.
Eclipse LV100-serie microscopen met voortreffelijke optische resultaten Eclipse LV150N
Eclipse LV100ND
De LV100 staat garant voor een grote helderheid, laag energieverbruik en minimale warmte-opwekking, waardoor het risico van afwijking ten gevolge van warmte wordt beperkt.
Eclipse MA200 De MA200 is een omgekeerde metallurgische microscoop voor een optimale digitale beeldvorming en ergonomische efficiëntie. Door zijn unieke vorm is het testmonster op het platform gemakkelijk bereikbaar en is de grootte van de microscoop een derde kleiner dan bij een conventioneel model.
NWL200 Wafer loading inspectie-systeem Eclipse MA200
NWL200 voor inspectie van wafers
De NWL200 serie is een “wafer loader” inspectie -microscoop die toelaat om wafers van slechts 100micron dun te inspecteren. Het geavanceerde systeem met specifieke wafer functionaliteiten is uitgerust voor automatische inspectie van de nieuwste generatie halfgeleiders. 29
BW Witlicht interferometrische microscoopmodule
VERTICALE RESOLUTIE TOT 1 PICOMETER Een BW systeem meet oppervlakte-profielen met een resolutie op sub-nanometer-niveau op een snelle en nauwkeurige manier. BW-serie is configureerbaar met microscopen zoals LV150N, MM800, L300N, CM10, enz
VLSI hoogte standaard: 8nm
Silicium wafer
Configuraties
Piezo Single Lens Actuator CCD Camera Compacte microscoopserie (CM-series)
Meetmicroscoop (MM-series)
Optische Meetmicroscoop (LV-series)
Optische microscoop (L-series)
Computer
Piezo Nosepiece Actuator
NeoScope Scanning Electron Microscope (SEM)
GEAVANCEERDE RASTERELECTRONEN-MICROSCOOP De JCM-6000 “NeoScopeTM” is een multifunctionele rasterelectronenmicroscoop. Dankzij de hoge resolutie en grote scherptediepte helpt NeoScope om foutanalyses op productiematerialen te versnellen. De basisbediening van de NeoScope is eenvoudig dankzij het aanraakscherm en de handige knoppen om de focus, het contrast en de helderheid in te stellen. Testmonsters kunnen in een paar minuten worden geladen en geanalyseerd zonder speciale voorbereiding van de stukken.
NeoScope SEM
Diatomeeën
30
Schuim
Dankzij op voorhand gedefinieerde parameters kan de gebruiker de NeoScope snel en automatisch instellen voor uiteenlopende materiaalmonsters. De NeoScope werkt in zowel een laag- als een hoogvacuümmodus en heeft verschillende instellingen voor het spanningsniveau voor optimale resultaten.
INDUSTRIËLE MICROSCOPEN
Digitale microscoop ShuttlePix P-400Rv
EEN DRAAGBARE MICROSCOOP MET HET GEBRUIKSGEMAK VAN EEN DIGITALE CAMERA De ShuttlePix 400Rv is een handbediende digitale microscoop waarmee men – in tegenstelling tot een standaard labo-model – overal ter plaatse beelden kan maken. De ShuttlePix bevat Nikon optica voor een haarscherpe beeldweergave en is even comfortabel in gebruik als een digitale camera. Dankzij de 20x optische zoom met een digitaal vergrotingsbereik tot 400x en een 4-delige LED-ringflitser kunnen in alle mogelijke lichtomstandigheden de meest gedetailleerde beelden worden gemaakt. Bovendien kan de ShuttlePix ook als een digitale tafelmodelmicroscoop worden gebruikt. Deze draagbare microscoop is geschikt voor uiteenlopende industriële toepassingen die een scherpe beeldregistratie en -inspectie vereisen zonder dat het proefstuk kan of moet verplaatst worden.
Toepassingen • Industriële onderdelen en materialen • Motoren en chassis van auto’s, boten en vliegtuigen • Elektronica • Gegoten onderdelen • Restauratie van kunstwerken • Pijpleidingen • Forensisch onderzoek
‘Point and Shoot’, zowel binnen als buiten, onder alle lichtomstandigheden
Kenmerken
Verwante producten • Gemotoriseerde standaard over de Z-as • Verschillende meethulpstukken (voor schuiven, kantelen enz. van testobject) • Aanraakscherm met directe sturing van de microscoop
• Zoombereik van 20-400x (20x optische zoom) • Ingebouwde 4-delige LED-ringflitser • Gemotoriseerde tafelstandaard en microscoopbediening via het aanraakscherm • Verlengde scherptediepte (EDOF) op de gemotoriseerde standaard • Opslag van .tiff- en .jpeg-beelden via USB- of SD-kaart • Complete set van accessoires beschikbaar (bvb. statieven, meettafels)
Voordelen • Veelzijdig gebruik, zowel op locatie als in het labo • Ergonomische, draagbare microscoop met de optische kwaliteit van een Nikon camera • Geen microscoopkennis of -ervaring vereist • Specifieke toepassingssoftware ondersteunt grafische analyses en rapportering
Gebruik met gemotoriseerde standaard op Z-as en microscoopbediening via het aanraakscherm
Gegoten metalen oppervlak Scheur in een muur
Elektronica
Verfstructuur
31
SOFTWARE OVERZICHT VOOR 2D-TOEPASSINGEN NIS-Elements Uitgebreide functies voor microscoopcontrole en beeldanalyse, visualisatie en archivering NIS-Elements combineert intelligente controle van microscopen, camera’s, onderdelen en randapparatuur met krachtige functionaliteit voor analyse, visualisatie en archivering. De intuïtieve interface vereenvoudigt de programmering en versnelt de beeldvorming en -analyse. Tegelijkertijd beschikt NIS Elements over verscheidene functies zoals combinatie van beelden, tellen van objecten en 3D beeldvorming.
AutoMeasure Gebruiksvriendelijke NEXIV software voor manuele of automatische metingen AutoMeasure is de basis-software voor iNEXIV en NEXIV videomeetsystemen en bevat een intuïtief wizardmenu, aanpasbare grafische gebruikersomgeving (GUI) en een gebruikersmodus voor zowel geavanceerde ingenieurstoepassingen als eenvoudig operatorgebruik.
E-Max gegevensverwerking Geavanceerde digitale beeldverwerking De E-Max software biedt een ultramoderne beeldverwerking die metingen met verschillende manuele meetinstrumenten (inclusief meetmicroscopen en profielprojectoren) ondersteunt.
32
INDUSTRIﾃ記E MICROSCOPEN
METROLOGIETOEPASSINGEN VOOR GROTE VOLUMES
l ta gi Di ld or w Computer aided
Computer aided
Computer aided
Design
Manufacturing
Assembly
Ph ys ica lw or ld
Digital backbone
Een productieproces dat wordt ondersteund door nauwkeurige, geometrische gegevens terug te koppelen, verhoogt de precisie en snelheid van ontwerp-, productie- en assemblageactiviteiten.
LASER RADAR
33
Laser Radar MV330/350
AUTOMATISCHE, CONTACTLOZE INSPECTIE VAN GROTE OBJECTEN Laser Radar is een veelzijdig metrologiesysteem met groot bereik waarbij contactloze inspecties door één persoon kunnen worden uitgevoerd. Aangezien het CNC-programmeerbaar is, kan het zelfs volledig automatisch werken. Laser Radar is uitgerust met gepatenteerde laserreflectietechnologie die rechtstreekse oppervlakte- en elementmetingen met hoge data-acquisitiesnelheden mogelijk maakt. Laser Radar maakt het onpraktische gebruik van fotogrammetriepunten, retro-reflectoren (SMR’s) of handbediende sensoren overbodig. Hierdoor worden de inspectietijd en instelkosten drastisch verlaagd. Laser Radar kan zowel donkere als sterk reflecterende materialen en oppervlakken scannen, zelfs onder grote hoeken.
Toepassingen
Kenmerken
• Inspectie van vliegtuigonderdelen zoals romp, vleugels, aansluitingen tussen vleugels, romp, deuren van landingsgestel • Automatische inspectie van de positie van klinknagelgaten • Inspectie van matrijs, prototype en serieproductie voor (samengestelde) onderdelen • Controle van grote machinaal bewerkte onderdelen op de machine zelf • Dimensionale controle van gesmede en gegoten onderdelen vóór de start van het freesproces • Vormmeting van windturbineschoepen • Controle van hardware voor ruimtetelescopen, schotelantennes en verwarmde oppervlakken • Inline inspectie van body-in-white assemblages
• Meetbereik voor MV350 tot 50 m (MV330 tot 30 m) • Scan-inspectiemodus legt tot 2.000 punten per seconde vast • Nauwkeurigheid van 24 µm (afstand van 24 m) tot 501 µm (afstand van 50 m) • Gezichtsveld kan worden uitgebreid met behulp van spiegels • Alle verworven gegevens kunnen worden teruggebracht naar een éénduidig coördinatenstelsel • Ondersteunt belangrijkste metrologiesoftwarepakketten voor grootvolume-metingen
Voordelen • Verbetert productie dankzij snelle en automatische metingen • Contactloze metingen zijn ideaal voor delicate specimens, zoals composietmaterialen • Automatisering leidt tot lagere personeelskosten en operatorfouten • Mogelijkheid tot volledige integratie in het meetproces • Integratie op robots mogelijk voor automatisch inline inspectie
Het gebruik van Laser Radar voor toepassingen in de groene energiemarkten neemt toe omdat het systeem grote en delicate structuren zoals zonnepanelen en windturbineschoepen probleemloos kan meten.
34
Inline inspectie met Laser Radar op robots
METROLOGIETOEPASSINGEN VOOR GROTE VOLUMES
Diensten en ondersteuning van Nikon Metrology
EEN VISIE VAN EEN TOTALE KLANTENSERVICE Nikon Metrology levert metrologieoplossingen - die volgens ISO9001/2000 en UKAS geaccrediteerd zijn- aan diverse sectoren en internationale klanten. Het bedrijf heeft een wereldwijd netwerk van hooggeschoolde sales, service en support teams. Dankzij de uitgebreide dienstverlening, zoals ondersteuning door de helpdesk, trainingen, onderhoudsprogramma’s, retrofitmogelijkheden en projectwerk, kunnen onze klanten hun Nikon Metrology systemen maximaal benutten en snel een oplossing vinden voor hun inspectie-uitdagingen. HELPDESK Ons team van deskundige helpdeskmedewerkers staat klaar om uw problemen inzake toepassingen/software op te oplossen via telefoon of email. METROLOGIE-TRAININGEN/CURSUSSEN Opleidingen en cursussen van software en hardware op beginnersniveau, intermediair niveau en gevorderd niveau worden gegeven door deskundige trainers met praktijkervaring. Trainingen worden gegeven bij Nikon Metrology of bij de klant.
INSPECTIE IN ONDERAANNEMING Nikon Metrology verleent uiteenlopende inspectiediensten in onderaanneming. Naast de eigen inspectiediensten kan Nikon Metrology ook steunen op een wereldwijd netwerk van servicecentra die erkend zijn om inspectiewerk in onderaanneming uit te voeren. • Door UKAS geaccrediteerde CMM-inspectie biedt de mogelijkheid om componenten van alle types en groottes te meten. • Laserscanning voor onderdeel-tot-CAD-inspectie of reverse engineering • Inspectiewerk op basis van röntgenbeelden en CT-scans voor elektronica en industriële toepassingen
PROGRAMMEERADVIES Hoogopgeleide ingenieurs verstrekken programmeeradvies, een expertise die uw productinspectiekosten kan drukken. ONDERHOUD EN KALIBRATIE Technische service van geavanceerde technologie is belangrijk om de betrouwbaarheid, productieve tijd en prestaties van het meetsysteem te maximaliseren. UPGRADES EN RETROFITS De werking, levensduur en nauwkeurigheid van bestaande CMMs verbeteren gevoelig wanneer een geavanceerde CMM-controller, krachtige DMIS-conforme CAMIOof CMM-Manager-software of een laserscanner van Nikon Metrology worden geïnstalleerd (retrofit). Er is een brede waaier aan hard-en software retrofits beschikbaar om aan al uw huidige en toekomstige behoeften te beantwoorden.
35
Nikon_Metrology_Solutions_NL_0315 – Auteursrecht Nikon Metrology NV 2015. Alle rechten voorbehouden. Deze gegevens zijn beknopt, zijn onderhevig aan wijzigingen en zijn uitsluitend bedoeld als algemene informatie.
NIKON METROLOGY NV
NIKON CORPORATION
Geldenaaksebaan 329 B-3001 Leuven, Belgium tel. +32 16 74 01 00 fax: +32 16 74 01 03 Sales.NM@nikon.com
Shinagawa Intercity Tower C, 2-15-3, Konan, Minato-ku, Tokyo 108-6290 Japan phone: +81-3-6433-3701 fax: +81-3-3216-2388 www.nikon-instruments.jp/eng/
NIKON METROLOGY EUROPE NV tel. +32 16 74 01 01 Sales.Europe.NM@nikon.com
NIKON METROLOGY, INC. tel. +1 810 2204360 Sales.US.NM@nikon.com
NIKON METROLOGY GMBH tel. +49 6023 91733-0 Sales.Germany.NM@nikon.com
NIKON METROLOGY UK LTD. tel. +44 1332 811349 Sales.UK.NM@nikon.com
NIKON METROLOGY SARL tel. +33 1 60 86 09 76 Sales.France.NM@nikon.com
More offices and resellers at www.nikonmetrology.com
NIKON INSTRUMENTS (SHANGHAI) CO. LTD. tel. +86 21 5836 0050 tel. +86 10 5869 2255 (Beijing office) tel. +86 20 3882 0550 (Guangzhou office) NIKON SINGAPORE PTE. LTD. tel. +65 6559 3618 NIKON MALAYSIA SDN. BHD. tel. +60 3 7809 3609 NIKON INSTRUMENTS KOREA CO. LTD. tel. +82 2 2186 8400