Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Patentes y Crecimiento Económico: ¿Innovación de residentes o de no residentes?
Jacobo Campo Robledo Grupo de Estudios Económicos Superintendencia de Industria y Comercio
Noviembre de 2013
Campo (2013). Patentes y Crecimiento Económico
Grupo de Estudios Económicos - SIC
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Contenido
1
Introducción
2
Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico
3
Datos y Metodología
4
Resultados
5
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Datos y Metodología
4
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5
Consideraciones finales
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2
Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico
3
Datos y Metodología
4
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Introducción
Cuando un país se encuentra en el pleno empleo de sus factores de producción, Capital y Trabajo, el residuo de Solow (1958) nos indica que los crecimientos del Producto se deben a cambios tecnológicos ya que los factores no pueden incrementarse. Esta hipótesis ha sido estudiada empíricamente por numerosos investigadores a lo largo de los últimos 20 años desde la publicación del trabajo de Mankiw, Romer y Weil (1992).
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Introducción
Cuando un país se encuentra en el pleno empleo de sus factores de producción, Capital y Trabajo, el residuo de Solow (1958) nos indica que los crecimientos del Producto se deben a cambios tecnológicos ya que los factores no pueden incrementarse. Esta hipótesis ha sido estudiada empíricamente por numerosos investigadores a lo largo de los últimos 20 años desde la publicación del trabajo de Mankiw, Romer y Weil (1992).
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Introducción
En este orden de ideas, los incrementos del PIB explicados por el residuo contienen entre otros factores, la innovación y la propiedad industrial (Patentes y Marcas), que a su vez tiene efectos positivos indirectos sobre el trabajo y el capital, y por ende sobre PIB. No obstante, no se ha contemplado clasificar las patentes registradas por residentes y no residentes, con el fin de conocer cual es su impacto sobre el crecimiento económico. Apriori se puede pensar que el impacto no es igual.
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Introducción Objetivo
Estudiar la relación entre las Patentes (de residentes y de no residentes) y el crecimiento económico empleando un modelo de datos panel para 10 países de América Latina. A través de técnicas recientes de análisis econométrico para datos panel no estacionarios se estima la relación de largo plazo entre los factores de producción (Patentes, Capital y Trabajo) y el PIB.
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Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Introducción Visión estratégica de la PI
La innovación constituye el mecanismo óptimo para garantizar la competitividad de un país en el largo plazo y asegurar que el crecimiento económico sea sostenible. En un mundo altamente globalizado, la búsqueda permanente de alternativas para producir más y mejor con menos recursos es un factor crítico que impulsa el crecimiento económico de los países y permite transformaciones económicas de largo alcance.
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Introducción Visión estratégica de la PI
La innovación constituye el mecanismo óptimo para garantizar la competitividad de un país en el largo plazo y asegurar que el crecimiento económico sea sostenible. En un mundo altamente globalizado, la búsqueda permanente de alternativas para producir más y mejor con menos recursos es un factor crítico que impulsa el crecimiento económico de los países y permite transformaciones económicas de largo alcance.
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Revisión de Literatura Durante los últimos años ha existido un gran interés académico, en estudiar el efecto que tienen las patentes sobre el crecimiento económico de los países. Trade off otorgamiento de patente en materia de incentivos
Park y Ginarte (1997) determinan que las patentes tienen un efecto positivo sobre la acumulación de capital, lo cual a su vez tiene un efecto positivo sobre el crecimiento económico de los países.
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Revisión de Literatura Durante los últimos años ha existido un gran interés académico, en estudiar el efecto que tienen las patentes sobre el crecimiento económico de los países. Trade off otorgamiento de patente en materia de incentivos
Park y Ginarte (1997) determinan que las patentes tienen un efecto positivo sobre la acumulación de capital, lo cual a su vez tiene un efecto positivo sobre el crecimiento económico de los países.
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Revisión de Literatura
Park y Ginarte (1997) Hall (1999) Cimoli (2005) Koléda (2004) Park (2008) Campo (2012)
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Revisión de Literatura
Park y Ginarte (1997) Hall (1999) Cimoli (2005) Koléda (2004) Park (2008) Campo (2012)
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Revisión de Literatura
Park y Ginarte (1997) Hall (1999) Cimoli (2005) Koléda (2004) Park (2008) Campo (2012)
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Revisión de Literatura
Park y Ginarte (1997) Hall (1999) Cimoli (2005) Koléda (2004) Park (2008) Campo (2012)
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Revisión de Literatura
Park y Ginarte (1997) Hall (1999) Cimoli (2005) Koléda (2004) Park (2008) Campo (2012)
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Revisión de Literatura
Park y Ginarte (1997) Hall (1999) Cimoli (2005) Koléda (2004) Park (2008) Campo (2012)
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IntroducciĂłn RelaciĂłn entre las Patentes y el Crecimiento EconĂłmico Datos y MetodologĂa Resultados Consideraciones finales
Modelo
En este caso, se propone estimar la siguiente relaciĂłn:
PIBit = ιi + β1 Lit + β2 Kit + β3 RPatit + β4 NRPatit + it
Obteniendo β1 , β2 , β3 , β4 . El subĂndice i denota los paĂses (observaciones cross-section), y el subĂndice t el tiempo.
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(1)
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Datos
Patentes Residentes y Patentes No Residentes, FBKF, Fuerza Laboral y PIB real, para 8 países latinoamericanos durante el periodo 1990 y 2010. (OMPI y World Bank) Los países considerados son Argentina, Brasil, Chile, Colombia, Ecuador, México, Perú y Uruguay.
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Datos
Patentes Residentes y Patentes No Residentes, FBKF, Fuerza Laboral y PIB real, para 8 países latinoamericanos durante el periodo 1990 y 2010. (OMPI y World Bank) Los países considerados son Argentina, Brasil, Chile, Colombia, Ecuador, México, Perú y Uruguay.
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Datos Gráfica 1. Relación PIB y registro de patentes por residentes (derecha) por no residentes (izquierda), 1990 2010. 28
28
27
26
26 LY
LY
27
25
25
24
24
23
23
4
5
6
7
8
9
LNRP
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10
0
1
2
3
4
5
LRP
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6
7
8
9
Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Datos Gráfica 2. Argentina LNY
LNL
27.0
16.8
26.8 16.7 26.6 26.4
16.6
26.2 16.5 26.0 25.8
16.4 90
92
94
96
98
00
02
04
06
08
10
90
92
94
96
98
LNK
00
02
04
06
08
10
02
04
06
08
10
LPAT
25.6
9.0 8.8
25.2 8.6 24.8
8.4
24.4
8.2 8.0
24.0 7.8 23.6
7.6 90
92
94
96
98
00
02
04
06
08
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Campo (2013). Patentes y Crecimiento Económico
90
92
94
96
98
00
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Datos Gráfica 3. Brasil LNY
LNL
27.6
18.5
27.5
18.4
27.4
18.3
27.3 18.2 27.2 18.1
27.1
18.0
27.0 26.9
17.9 90
92
94
96
98
00
02
04
06
08
10
90
92
94
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98
LNK
00
02
04
06
08
10
02
04
06
08
10
LPAT
26.0
10.4
25.8
10.0
25.6
9.6
25.4
9.2
25.2
8.8
25.0
8.4 90
92
94
96
98
00
02
04
06
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10
Campo (2013). Patentes y Crecimiento Económico
90
92
94
96
98
00
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Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Datos Gráfica 4. Chile LNY
LNL
25.6
16.0
25.4
15.9
25.2
15.8
25.0
15.7
24.8
15.6
24.6
15.5
24.4
15.4 90
92
94
96
98
00
02
04
06
08
10
90
92
94
96
98
LNK
00
02
04
06
08
10
02
04
06
08
10
LPAT
24.4
8.4
24.0
8.0
23.6
7.6
23.2
7.2
22.8
6.8
22.4
6.4 90
92
94
96
98
00
02
04
06
08
10
Campo (2013). Patentes y Crecimiento Económico
90
92
94
96
98
00
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Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Datos Gráfica 5. Colombia LNY
LNL
25.8
17.0
25.6
16.8
25.4
16.6
25.2
16.4
25.0
16.2 90
92
94
96
98
00
02
04
06
08
10
90
92
94
96
98
LNK
00
02
04
06
08
10
02
04
06
08
10
LNPAT
24.4
8.0
24.2 7.6 24.0 23.8
7.2
23.6
6.8
23.4 6.4 23.2 23.0
6.0 90
92
94
96
98
00
02
04
06
08
10
Campo (2013). Patentes y Crecimiento Económico
90
92
94
96
98
00
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Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Datos Gráfica 6. Ecuador LNY
LNL
24.0
15.8
23.9
15.7
23.8
15.6
23.7
15.5
23.6
15.4
23.5
15.3
23.4
15.2
23.3
15.1 90
92
94
96
98
00
02
04
06
08
10
90
92
94
96
98
LNK
00
02
04
06
08
10
02
04
06
08
10
LPAT
22.8
7.0
22.6
6.5
22.4
6.0
22.2
5.5
22.0
5.0
21.8
4.5
21.6
4.0 90
92
94
96
98
00
02
04
06
08
10
Campo (2013). Patentes y Crecimiento Económico
90
92
94
96
98
00
Grupo de Estudios Económicos - SIC
Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Datos Gráfica 7. México LNY
LNL
27.3
17.8
27.2
17.7
27.1
17.6
27.0
17.5
26.9
17.4
26.8
17.3
26.7
17.2 90
92
94
96
98
00
02
04
06
08
10
90
92
94
96
98
LNK
00
02
04
06
08
10
02
04
06
08
10
LPAT
26.0
10.0
25.8
9.6
25.6 9.2 25.4 8.8 25.2 8.4
25.0 24.8
8.0 90
92
94
96
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00
02
04
06
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10
Campo (2013). Patentes y Crecimiento Económico
90
92
94
96
98
00
Grupo de Estudios Económicos - SIC
Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Datos Gráfica 10. Perú LNY
LNL
25.4
16.6
25.2
16.5 16.4
25.0
16.3 24.8 16.2 24.6
16.1
24.4
16.0
24.2
15.9 90
92
94
96
98
00
02
04
06
08
10
90
92
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LNK
00
02
04
06
08
10
02
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06
08
10
LPAT
24.4
7.5
24.0
7.0
23.6
6.5
23.2
6.0
22.8
5.5
22.4
5.0 90
92
94
96
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02
04
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10
Campo (2013). Patentes y Crecimiento Económico
90
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98
00
Grupo de Estudios Económicos - SIC
Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Datos Gráfica 11. Uruguay LNY
LNL
24.2
14.35
24.1 14.30 24.0 14.25
23.9 23.8
14.20
23.7 14.15 23.6 23.5
14.10 90
92
94
96
98
00
02
04
06
08
10
90
92
94
96
98
LNK
00
02
04
06
08
10
02
04
06
08
10
LPAT
22.4
6.8
22.2
6.4
22.0 6.0 21.8 5.6 21.6 5.2
21.4 21.2
4.8 90
92
94
96
98
00
02
04
06
08
10
Campo (2013). Patentes y Crecimiento Económico
90
92
94
96
98
00
Grupo de Estudios Económicos - SIC
Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Pruebas de Raíces Unitarias Panel
IPS (2003) - Heterogeneidad Levin, Lin y Chu (2002) Maddala y Wu (1999) (Fisher tipo ADF) - Heterogeneidad Choi (2001) (Fisher tipo PP) Breitung (2000) Hadri (2000)
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Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Pruebas de Raíces Unitarias Panel
IPS (2003) - Heterogeneidad Levin, Lin y Chu (2002) Maddala y Wu (1999) (Fisher tipo ADF) - Heterogeneidad Choi (2001) (Fisher tipo PP) Breitung (2000) Hadri (2000)
Campo (2013). Patentes y Crecimiento Económico
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Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Pruebas de Raíces Unitarias Panel
IPS (2003) - Heterogeneidad Levin, Lin y Chu (2002) Maddala y Wu (1999) (Fisher tipo ADF) - Heterogeneidad Choi (2001) (Fisher tipo PP) Breitung (2000) Hadri (2000)
Campo (2013). Patentes y Crecimiento Económico
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Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Pruebas de Raíces Unitarias Panel
IPS (2003) - Heterogeneidad Levin, Lin y Chu (2002) Maddala y Wu (1999) (Fisher tipo ADF) - Heterogeneidad Choi (2001) (Fisher tipo PP) Breitung (2000) Hadri (2000)
Campo (2013). Patentes y Crecimiento Económico
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Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Pruebas de Raíces Unitarias Panel
IPS (2003) - Heterogeneidad Levin, Lin y Chu (2002) Maddala y Wu (1999) (Fisher tipo ADF) - Heterogeneidad Choi (2001) (Fisher tipo PP) Breitung (2000) Hadri (2000)
Campo (2013). Patentes y Crecimiento Económico
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Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Pruebas de Raíces Unitarias Panel
IPS (2003) - Heterogeneidad Levin, Lin y Chu (2002) Maddala y Wu (1999) (Fisher tipo ADF) - Heterogeneidad Choi (2001) (Fisher tipo PP) Breitung (2000) Hadri (2000)
Campo (2013). Patentes y Crecimiento Económico
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Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Pruebas de Raíces Unitarias Panel
IPS (2003) - Heterogeneidad Levin, Lin y Chu (2002) Maddala y Wu (1999) (Fisher tipo ADF) - Heterogeneidad Choi (2001) (Fisher tipo PP) Breitung (2000) Hadri (2000)
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Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Prueba de Raíz Unitaria Hadri y Rao (2008)
Esta prueba de Raíz Unitaria es de segunda generación (tiene en cuenta la dependencia cruzada entre los individuos del panel) y adicionalmente puede incorporar un posible quiebre estructural. Extienden la prueba de Hadri (2000) H0 : Todas las series son estacionarias Utiliza un estadístico tipo LM
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Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Prueba de Raíz Unitaria Hadri y Rao (2008)
Esta prueba de Raíz Unitaria es de segunda generación (tiene en cuenta la dependencia cruzada entre los individuos del panel) y adicionalmente puede incorporar un posible quiebre estructural. Extienden la prueba de Hadri (2000) H0 : Todas las series son estacionarias Utiliza un estadístico tipo LM
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Prueba de Raíz Unitaria Hadri y Rao (2008)
Esta prueba de Raíz Unitaria es de segunda generación (tiene en cuenta la dependencia cruzada entre los individuos del panel) y adicionalmente puede incorporar un posible quiebre estructural. Extienden la prueba de Hadri (2000) H0 : Todas las series son estacionarias Utiliza un estadístico tipo LM
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IntroducciĂłn RelaciĂłn entre las Patentes y el Crecimiento EconĂłmico Datos y MetodologĂa Resultados Consideraciones finales
Prueba de RaĂz Unitaria Hadri y Rao (2008)
Hadri y Rao (2008) establecen los siguientes 4 tipos de modelos:
yit = ιi + rit + δi Dit + it
(2)
yit = ιi + rit + δi Dit + βit t + it
(3)
yit = ιi + rit + γi δi DTit + βit t + it
(4)
yit = ιi + rit + δi Dit + γi δi DTit + βit t + it
(5)
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Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Prueba de Raíz Unitaria Hadri y Rao (2008)
Las variables dummy Dit y DTit ayudan a determinar el quiebre estructural. El estadístico Multiplicador de Lagrange (LM) que permite la presencia de un quiebre estructural en el panel de datos es: N 1X c ηi,T,k (ωi ) LM T,N,k (b ω) = N i=1
Campo (2013). Patentes y Crecimiento Económico
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(6)
Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Prueba de Raíz Unitaria Hadri y Rao (2008)
Las variables dummy Dit y DTit ayudan a determinar el quiebre estructural. El estadístico Multiplicador de Lagrange (LM) que permite la presencia de un quiebre estructural en el panel de datos es: N 1X c LM T,N,k (b ω) = ηi,T,k (ωi ) N i=1
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Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Prueba de Raíz Unitaria Hadri y Rao (2008)
Las variables dummy Dit y DTit ayudan a determinar el quiebre estructural. El estadístico Multiplicador de Lagrange (LM) que permite la presencia de un quiebre estructural en el panel de datos es: N 1X c LM T,N,k (b ω) = ηi,T,k (ωi ) N i=1
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IntroducciĂłn RelaciĂłn entre las Patentes y el Crecimiento EconĂłmico Datos y MetodologĂa Resultados Consideraciones finales
Prueba de RaĂz Unitaria Hadri y Rao (2008)
Para corregir la posible correlaciĂłn serial, Hadri y Rao (2008) proponen seguir la metodologĂa de Sul et al. (2005), la cual consiste en especificar un modelo AR(p) para los errores estimados it del modelo con quiebre que se haya seleccionado. AsĂ mismo, para corregir la dependencia cruzada entre individuos, proponen seguir una metodologĂa bootstrap presentada por Maddala y Wu (1999), para derivar la distribuciĂłn empĂrica del estimador del estadĂstico LM.
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IntroducciĂłn RelaciĂłn entre las Patentes y el Crecimiento EconĂłmico Datos y MetodologĂa Resultados Consideraciones finales
Prueba de RaĂz Unitaria Hadri y Rao (2008)
Para corregir la posible correlaciĂłn serial, Hadri y Rao (2008) proponen seguir la metodologĂa de Sul et al. (2005), la cual consiste en especificar un modelo AR(p) para los errores estimados it del modelo con quiebre que se haya seleccionado. AsĂ mismo, para corregir la dependencia cruzada entre individuos, proponen seguir una metodologĂa bootstrap presentada por Maddala y Wu (1999), para derivar la distribuciĂłn empĂrica del estimador del estadĂstico LM.
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Introducción Relación entre las Patentes y el Crecimiento Económico Datos y Metodología Resultados Consideraciones finales
Prueba de Cointegración Panel Pedroni (1999, 2004)
Esta prueba permite tener en cuenta la heterogeneidad entre los miembros del panel. Se estima por FMOLS ó DOLS. H0 : No Cointegración en el panel Basada en 2 tipos de pruebas, conformadas por 7 estadísticos
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Prueba de Cointegración Panel Pedroni (1999, 2004)
Esta prueba permite tener en cuenta la heterogeneidad entre los miembros del panel. Se estima por FMOLS ó DOLS. H0 : No Cointegración en el panel Basada en 2 tipos de pruebas, conformadas por 7 estadísticos
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Prueba de Cointegración Panel Pedroni (1999, 2004)
Esta prueba permite tener en cuenta la heterogeneidad entre los miembros del panel. Se estima por FMOLS ó DOLS. H0 : No Cointegración en el panel Basada en 2 tipos de pruebas, conformadas por 7 estadísticos
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Prueba de Cointegración Panel Pedroni (1999, 2004)
Within-Dimension - Agrupan los coeficientes autorregresivos de los miembros Panel v-statistic Panel ρ-statistic Panel PP-statistic Panel ADF-statistic Between-Dimension - Promedia los coeficientes estimados para cada miembro Group ρ-statistic Group PP-statistic Group ADF-statistic
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Prueba de Cointegración Panel Pedroni (1999, 2004)
Within-Dimension - Agrupan los coeficientes autorregresivos de los miembros Panel v-statistic Panel ρ-statistic Panel PP-statistic Panel ADF-statistic Between-Dimension - Promedia los coeficientes estimados para cada miembro Group ρ-statistic Group PP-statistic Group ADF-statistic
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Prueba de Cointegración Panel Pedroni (1999, 2004)
Within-Dimension - Agrupan los coeficientes autorregresivos de los miembros Panel v-statistic Panel ρ-statistic Panel PP-statistic Panel ADF-statistic Between-Dimension - Promedia los coeficientes estimados para cada miembro Group ρ-statistic Group PP-statistic Group ADF-statistic
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Prueba de Cointegración Panel Pedroni (1999, 2004)
Within-Dimension - Agrupan los coeficientes autorregresivos de los miembros Panel v-statistic Panel ρ-statistic Panel PP-statistic Panel ADF-statistic Between-Dimension - Promedia los coeficientes estimados para cada miembro Group ρ-statistic Group PP-statistic Group ADF-statistic
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Prueba de Cointegración Panel Pedroni (1999, 2004)
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Prueba de Cointegración Panel Pedroni (1999, 2004)
Within-Dimension - Agrupan los coeficientes autorregresivos de los miembros Panel v-statistic Panel ρ-statistic Panel PP-statistic Panel ADF-statistic Between-Dimension - Promedia los coeficientes estimados para cada miembro Group ρ-statistic Group PP-statistic Group ADF-statistic
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Prueba de Cointegración Panel Pedroni (1999, 2004)
Within-Dimension - Agrupan los coeficientes autorregresivos de los miembros Panel v-statistic Panel ρ-statistic Panel PP-statistic Panel ADF-statistic Between-Dimension - Promedia los coeficientes estimados para cada miembro Group ρ-statistic Group PP-statistic Group ADF-statistic
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Prueba de Cointegración Panel Pedroni (1999, 2004)
Within-Dimension - Agrupan los coeficientes autorregresivos de los miembros Panel v-statistic Panel ρ-statistic Panel PP-statistic Panel ADF-statistic Between-Dimension - Promedia los coeficientes estimados para cada miembro Group ρ-statistic Group PP-statistic Group ADF-statistic
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Raíces Unitarias Tabla 1. Resultados Pruebas de Raíces Unitarias (Niveles) - Primera Generación Prueba Levin, Lin & Chu t* Breitung t-stat Im, Pesaran and Shin W-stat ADF - Fisher Chi-square PP - Fisher Chi-square Hadri Z-stat
Ln(Y) Ln(L) Ln(K) Ln(RP) Ln(NRP) Estadístico Estadístico Estadístico Estadístico Estadístico 0.098 -0.418 1.069 -0.474 1.553 -0.627 0.516 -2.932 1.944 1.016 0.065 0.609 -2.537 -0.580 0.459 17.106 16.843 37.184 19.631 27.375 7.053 15.928 13.276 21.089 29.739 9.57173*** 9.83644*** 7.62121*** 3.31599*** 5.15155***
(***) Rechaza Hipótesis nula al 1% (**) Rechaza Hipótesis nula al 5% (*) Rechaza Hipótesis nula al 10%
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Raíces Unitarias
Tabla 2. Resultados Pruebas de Raíces Unitarias (Diferencia) - Primera Generación
∆ Ln(Y) Estadístico Levin, Lin & Chu t* -7.30538*** Breitung t-stat -3.22365*** Im, Pesaran and Shin W-stat -4.85325*** ADF - Fisher Chi-square 56.3103*** PP - Fisher Chi-square 53.6995*** Hadri Z-stat 0.29898 Prueba
∆ Ln(L) Estadístico -6.40865*** -4.15712*** -5.71363*** 67.2907*** 71.6274*** 1.14229
∆ Ln(K) Estadístico -7.6862*** -3.81739*** -4.76448*** 55.7524*** 62.7853*** -0.34925
∆ Ln(RP) Estadístico -5.56692*** 0.1902* -6.7199*** 75.7014*** 27.783*** 0.39422
(***) Rechaza Hipótesis nula al 1% (**) Rechaza Hipótesis nula al 5% (*) Rechaza Hipótesis nula al 10%
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∆ Ln(NRP) Estadístico -6.33139*** -1.71111** -7.18561*** 81.9498*** 96.4479*** 0.67438
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Raíces Unitarias
Tabla 3. Resultado Prueba de Raíce Unitaria - Hadri y Rao (2008)
ARG BRA CHI COL ECU MEX PER URY Estadístico LM P-Value Asintótico P-Value Bootstrap
Ln(Y) Ln(K) Ln(L) Ln(RP) Ln(NRP) Quiebre Model AR Quiebre Model AR Quiebre Model AR Quiebre Model AR Quiebre Model 2001 3 1 2001 3 1 2004 3 4 2001 3 3 2002 3 2004 2 3 2002 3 0 1993 2 1 1997 1 4 1997 0 1997 2 1 1999 3 0 2001 3 4 2009 2 1 2001 2 1999 3 2 1999 3 2 2004 3 2 2001 1 4 2002 1 1999 3 0 1999 3 1 2001 3 0 2001 1 0 2002 2 2009 1 1 1995 1 1 1999 3 4 1999 0 4 1999 1 2001 3 3 2000 1 0 2003 1 0 2009 2 4 2009 2 2002 3 0 2002 3 1 2003 1 0 1997 3 4 1997 3 8.589 0.0000 0.0460
6.325 0.0000 0.0260
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15.834 0.0000 0.0470
22.390 0.0000 0.0051
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19.492 0.0000 0.0362
AR 2 3 1 4 1 4 3 3
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Cointegración
Tabla 4. Resultado Prueba de Cointegración - Pedroni
Panel v-Statistic Panel rho-Statistic Panel PP-Statistic Panel ADF-Statistic Group rho-Statistic Group PP-Statistic Group ADF-Statistic
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Estadístico 7.892833 0.511618 -3.004954 -1.00323 1.729542 -3.684522 -1.586752
Prob. 0.0000 0.6955 0.0013 0.1579 0.9581 0.0001 0.0791
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Relación de Largo Plazo
La ecuación de largo plazo estimada
PIBit = 7,54 + 0,519Lit + 0,375Kit + 0,025RPatit + 0,044NRPatit (7)
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Consideraciones finales
Los resultados presentan evidencia estadística sobre la existencia de una relación de largo plazo entre las Patentes, el Capital, el Trabajo y el PIB para los 8 países considerados. Los derechos de propiedad industrial tienen un efecto positivo y significativo sobre la innovación, y por tanto sobre el crecimiento económico, al generar, por medio de la protección de nuevos productos y marcas, la generación de nuevos factores, mercados y por consiguiente el incremento de la productividad.
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Consideraciones finales
Los resultados presentan evidencia estadística sobre la existencia de una relación de largo plazo entre las Patentes, el Capital, el Trabajo y el PIB para los 8 países considerados. Los derechos de propiedad industrial tienen un efecto positivo y significativo sobre la innovación, y por tanto sobre el crecimiento económico, al generar, por medio de la protección de nuevos productos y marcas, la generación de nuevos factores, mercados y por consiguiente el incremento de la productividad.
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Consideraciones finales
En general, aun incremento del 1 % en el capital, a largo plazo, el PIB se incrementa en 0.38 % aproximadamente. Un incremento del 1 % en la fuerza laboral, en el largo plazo, incrementa el PIB en un 0.51 %. Finalmente, y parte del propósito de este estudio empírico, ante un incremento de las Patentes registradas por residentes en un 1 %, a largo plazo, provoca un incremento del PIB de 0.025 %, mientras que el incremento del 1 % en el registro de patentes por no residentes incrementa el PIB en 0.044 %.
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Consideraciones finales
Esto sugiere que tanto las patentes de invención registradas por residentes como las registradas por no residentes tienen un impacto positivo sobre el crecimiento económico de los países latinoamericanos. Adicionalmente, la baja elasticidad del PIB con respecto a las patentes tanto de residentes como de no residentes se explica por el excaso nivel de innovación que se registra en la mayoría de países de América Latina.
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Consideraciones finales
Esto sugiere que tanto las patentes de invención registradas por residentes como las registradas por no residentes tienen un impacto positivo sobre el crecimiento económico de los países latinoamericanos. Adicionalmente, la baja elasticidad del PIB con respecto a las patentes tanto de residentes como de no residentes se explica por el excaso nivel de innovación que se registra en la mayoría de países de América Latina.
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GRACIAS...!
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