ANNEX IV DIFRACCIÓ DE RAIGS X 1. Fonaments 1.1. Espectre electromagnètic i raigs X 1.2. Estat cristal·lí 1.3. Interacció dels raigs X amb la matèria. Difracció 1.4. Mètodes experimentals de difracció 1.5. Aplicacions de la difracció de raigs X 2. El difractòmetre convencional 2.1. Tub de raigs X 2.2. Detectors 2.3. Mostra i portamostres 2.4. Finestres i monocromadors 2.5. Cambres de T i P variable 3. Patró de difracció de mostres policristal·lines 3.1. Diagrama de difracció de raigs X 3.2. Posició dels pics de difracció 3.3. Intensitat dels pics de difracció 3.4. Perfil dels pics de difracció 3.5. Difracció i substàncies amorfes 3.6. Obtenció de dades: variables 1. Fonaments 1.1. Espectre electromagnètic i raigs X Els raigs X es van descobrir el 1895 pel físic alemany Roentgen i van rebre aquest nom perquè es desconeixia la seua naturalesa en aquest moment. El 1912 es va establir de manera precisa la naturalesa dels raigs X. En aquest any es va descobrir la difracció de raigs X en cristalls. Aquest descobriment va provar la naturalesa dels raigs X i va proporcionar un nou mètode per investigar l’estructura de la matèria de manera simultània. Els raigs X són una radiació electromagnètica de la mateixa naturalesa que la llum però de longitud d’ona molt més curta. La unitat de mesura de la longitud d’ona a la regió dels raigs X és l’àngstrom (Å), igual a 10-10 m. En particular, els raigs X usats en difracció tenen longituds d’ona en el rang 0,5-2,5
Ciència dels materials: metalls, ceràmiques i polímers ISBN: 978-84-18432-91-0
223
Índex
Juan B. Carda Castelló, Diego Fraga Chiva, Ester Barrachina Albert, Iván Calvet Roures, Jaime González Cuadra, Samuel Porcar García DOI: http://dx.doi.org/10.6035/Sapientia181
